Nanolithographie mit dem Rasterkraftmikroskop:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Klehn, Bernd (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: Erlangen Lehrstuhl für Mikrocharakterisierung 1999
Schriftenreihe:Physik mikrostrukturierter Halbleiter 11
Schlagworte:
Beschreibung:88 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:3932392183

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