Thönissen, M. O. (1998). Spektroskopische Charakterisierung von Schichten und Schichtsystemen aus porösem Silicium im Hinblick auf optische und optoelektronische Anwendungen.
Chicago Style (17th ed.) CitationThönissen, Markus Otto-Wilhelm. Spektroskopische Charakterisierung Von Schichten Und Schichtsystemen Aus Porösem Silicium Im Hinblick Auf Optische Und Optoelektronische Anwendungen. 1998.
MLA (9th ed.) CitationThönissen, Markus Otto-Wilhelm. Spektroskopische Charakterisierung Von Schichten Und Schichtsystemen Aus Porösem Silicium Im Hinblick Auf Optische Und Optoelektronische Anwendungen. 1998.
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