Thönissen, M. O. (1998). Spektroskopische Charakterisierung von Schichten und Schichtsystemen aus porösem Silicium im Hinblick auf optische und optoelektronische Anwendungen.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Thönissen, Markus Otto-Wilhelm. Spektroskopische Charakterisierung Von Schichten Und Schichtsystemen Aus Porösem Silicium Im Hinblick Auf Optische Und Optoelektronische Anwendungen. 1998.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Thönissen, Markus Otto-Wilhelm. Spektroskopische Charakterisierung Von Schichten Und Schichtsystemen Aus Porösem Silicium Im Hinblick Auf Optische Und Optoelektronische Anwendungen. 1998.
Achtung: Diese Zitate sind unter Umständen nicht zu 100% korrekt.