(1998). Beam effects, surface topography, and depth profiling in surface analysis. Plenum Press.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis. New York [u.a.]: Plenum Press, 1998.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis. Plenum Press, 1998.
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