Scheer, S. Internationales Patent-, Muster- und Marken-Recht. Scheer.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Scheer, Stefan. Internationales Patent-, Muster- Und Marken-Recht. Hürth ; Köln: Scheer.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Scheer, Stefan. Internationales Patent-, Muster- Und Marken-Recht. Scheer.
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