Möglichkeiten und Grenzen des Einsatzes von Bildplattendetektoren in der Röntgendiffraktometrie:
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1998
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INHALTSVERZEICHNIS
1
EINLEITUNG
7
2
GRUNDLAGEN
11
2.1
ROENTGENBEUGUNG
.
11
2.2
ROENTGENSTRUKTURANALYSE
.
13
2.3
HOCHAUFGELOESTE
ROENTGENBEUGUNG
.
15
2.3.1
GITTERANPASSUNG
UND
RELAXATION
VON
EPITAXIESCHICHTEN
.
15
2.3.2
ROENTGENBEUGUNG
AN
EINER
FLACHEN
PROBE
.
17
2.3.3
DAS
REZIPROKE
GITTER
EINER
HETEROSTRUKTUR
.
18
2.3.4
ROCKINGKURVEN
.
20
2.3.5
REZIPROKE
GITTERKARTEN
.
22
2.3.6
MEHRKRISTALLDIFFRAKTOMETRIE
.
25
3
EIGENSCHAFTEN
DES
DETEKTORSYSTEMS
29
3.1
ROENTGENSPEICHERLEUCHTSTOFFE
.
29
3.2
FUNKTIONSWEISE
DES
FASTSCAN-SYSTEMS
.
30
3.3
EIGENSCHAFTEN
.
34
3.3.1
AUFLOESUNG
.
34
3.3.2
VERZERRUNG
.
37
3.3.3
HOMOGENITAET
DER
EMPFINDLICHKEIT
.
40
3.3.4
QUANTENEFFIZIENZ
.
42
3.3.5
STABILITAET
DER
GESPEICHERTEN
INFORMATION
.
51
3.3.6
WEITERE
EIGENSCHAFTEN
.
53
4
ROENTGENSTRUKTURANALYSE
55
4.1
EXPERIMENTELLER
AUFBAU
.
55
4.1.1
BESCHREIBUNG
DER
DIFFRAKTOMETERGEOMETRIE
.
57
4.1.2
DER
KRISTALL
.
59
4.1.3
DER
DETEKTOR
.
59
6
INHALTSVERZEICHNIS
4.2
DIE
AUFNAHME
VON
BRAGG-REFLEXEN
.
60
4.3
INDIZIERUNG
DER
BRAGG-REFLEXE
.
61
4.4
GENAUE
BESTIMMUNG
DER
GERAETEPARAMETER
.
62
4.5
VERFEINERUNG
DER
ORIENTIERUNGSMATRIX
.
62
4.6
BESTIMMUNG
DER
REFLEXINTENSITAETEN
.
63
4.7
MESSUNG
VON
STRUKTURDATEN
AM
BEISPIEL
PRUSSIAT
.
66
5
HOCHAUFGELOESTE
ROENTGENBEUGUNG
73
5.1
REZ.
GITTERKARTEN
MIT
DEM
BILDPLATTENDETEKTOR
.
73
5.2
MESSAUFBAU
.
75
5.3
UMRECHNUNG
IN
KOORDINATEN
DES
REZIPROKEN
RAUMS
.
.
77
5.3.1
BEISPIEL:
II-VI-HALBLEITER
.
79
5.3.2
BEISPIEL:
III-V-HALBLEITER
.
80
5.4
AUFLOESUNG
DES
BILDPLATTENDIFFRAKTOMETERS
.
81
5.5
MESSZEITGEWINN
.
88
5.6
TIEFENABHAENGIGE
MESSUNGEN
.
93
5.6.1
METHODE
.
94
5.6.2
EXPERIMENT
.
97
5.6.3
HETEROSTRUKTUREN
AUF
DER
BASIS
VON
CDTE
.
98
5.6.4
HETEROSTRUKTUR
AUF
DER
BASIS
VON
ZNSE
.
103
6
ZUSAMMENFASSUNG
107 |
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