Röntgenflektometrie zur Analyse von Dünnschichtsystemen: Charakterisierung ultradünner Schichten [2]: Technischer Anhang DiffTool Hilfe und Referenzhandbuch
Gespeichert in:
| 1. Verfasser: | |
|---|---|
| Format: | Buch |
| Sprache: | Undetermined |
| Veröffentlicht: |
1997
|
| Schlagworte: | |
| Beschreibung: | 188 S. Ill., graph. Darst. |
Internformat
MARC
| LEADER | 00000nam a2200000 cc4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | BV012172407 | ||
| 003 | DE-604 | ||
| 005 | 20020111 | ||
| 007 | t | ||
| 008 | 980928s1997 ad|| m||| 00||| und d | ||
| 035 | |a (OCoLC)632618242 | ||
| 035 | |a (DE-599)BVBBV012172407 | ||
| 040 | |a DE-604 |b ger |e rakwb | ||
| 041 | |a und | ||
| 049 | |a DE-355 |a DE-91 |a DE-29T | ||
| 100 | 1 | |a Filies, Olaf |d 1966- |e Verfasser |0 (DE-588)120075466 |4 aut | |
| 245 | 1 | 0 | |a Röntgenflektometrie zur Analyse von Dünnschichtsystemen |b Charakterisierung ultradünner Schichten |n [2]: Technischer Anhang |p DiffTool Hilfe und Referenzhandbuch |c vorgelegt von Olaf Filies |
| 264 | 1 | |c 1997 | |
| 300 | |a 188 S. |b Ill., graph. Darst. | ||
| 336 | |b txt |2 rdacontent | ||
| 337 | |b n |2 rdamedia | ||
| 338 | |b nc |2 rdacarrier | ||
| 655 | 7 | |0 (DE-588)4113937-9 |a Hochschulschrift |2 gnd-content | |
| 773 | 0 | 8 | |w (DE-604)BV012172400 |g 2 |
| 999 | |a oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-008247001 | ||
Datensatz im Suchindex
| _version_ | 1804126786107211776 |
|---|---|
| any_adam_object | |
| author | Filies, Olaf 1966- |
| author_GND | (DE-588)120075466 |
| author_facet | Filies, Olaf 1966- |
| author_role | aut |
| author_sort | Filies, Olaf 1966- |
| author_variant | o f of |
| building | Verbundindex |
| bvnumber | BV012172407 |
| ctrlnum | (OCoLC)632618242 (DE-599)BVBBV012172407 |
| format | Book |
| fullrecord | <?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?><collection xmlns="http://www.loc.gov/MARC21/slim"><record><leader>00919nam a2200265 cc4500</leader><controlfield tag="001">BV012172407</controlfield><controlfield tag="003">DE-604</controlfield><controlfield tag="005">20020111 </controlfield><controlfield tag="007">t</controlfield><controlfield tag="008">980928s1997 ad|| m||| 00||| und d</controlfield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(OCoLC)632618242</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(DE-599)BVBBV012172407</subfield></datafield><datafield tag="040" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-604</subfield><subfield code="b">ger</subfield><subfield code="e">rakwb</subfield></datafield><datafield tag="041" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">und</subfield></datafield><datafield tag="049" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-355</subfield><subfield code="a">DE-91</subfield><subfield code="a">DE-29T</subfield></datafield><datafield tag="100" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Filies, Olaf</subfield><subfield code="d">1966-</subfield><subfield code="e">Verfasser</subfield><subfield code="0">(DE-588)120075466</subfield><subfield code="4">aut</subfield></datafield><datafield tag="245" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">Röntgenflektometrie zur Analyse von Dünnschichtsystemen</subfield><subfield code="b">Charakterisierung ultradünner Schichten</subfield><subfield code="n">[2]: Technischer Anhang</subfield><subfield code="p">DiffTool Hilfe und Referenzhandbuch</subfield><subfield code="c">vorgelegt von Olaf Filies</subfield></datafield><datafield tag="264" ind1=" " ind2="1"><subfield code="c">1997</subfield></datafield><datafield tag="300" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">188 S.</subfield><subfield code="b">Ill., graph. Darst.</subfield></datafield><datafield tag="336" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">txt</subfield><subfield code="2">rdacontent</subfield></datafield><datafield tag="337" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">n</subfield><subfield code="2">rdamedia</subfield></datafield><datafield tag="338" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">nc</subfield><subfield code="2">rdacarrier</subfield></datafield><datafield tag="655" ind1=" " ind2="7"><subfield code="0">(DE-588)4113937-9</subfield><subfield code="a">Hochschulschrift</subfield><subfield code="2">gnd-content</subfield></datafield><datafield tag="773" ind1="0" ind2="8"><subfield code="w">(DE-604)BV012172400</subfield><subfield code="g">2</subfield></datafield><datafield tag="999" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-008247001</subfield></datafield></record></collection> |
| genre | (DE-588)4113937-9 Hochschulschrift gnd-content |
| genre_facet | Hochschulschrift |
| id | DE-604.BV012172407 |
| illustrated | Illustrated |
| indexdate | 2024-07-09T18:22:59Z |
| institution | BVB |
| language | Undetermined |
| oai_aleph_id | oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-008247001 |
| oclc_num | 632618242 |
| open_access_boolean | |
| owner | DE-355 DE-BY-UBR DE-91 DE-BY-TUM DE-29T |
| owner_facet | DE-355 DE-BY-UBR DE-91 DE-BY-TUM DE-29T |
| physical | 188 S. Ill., graph. Darst. |
| publishDate | 1997 |
| publishDateSearch | 1997 |
| publishDateSort | 1997 |
| record_format | marc |
| spelling | Filies, Olaf 1966- Verfasser (DE-588)120075466 aut Röntgenflektometrie zur Analyse von Dünnschichtsystemen Charakterisierung ultradünner Schichten [2]: Technischer Anhang DiffTool Hilfe und Referenzhandbuch vorgelegt von Olaf Filies 1997 188 S. Ill., graph. Darst. txt rdacontent n rdamedia nc rdacarrier (DE-588)4113937-9 Hochschulschrift gnd-content (DE-604)BV012172400 2 |
| spellingShingle | Filies, Olaf 1966- Röntgenflektometrie zur Analyse von Dünnschichtsystemen Charakterisierung ultradünner Schichten |
| subject_GND | (DE-588)4113937-9 |
| title | Röntgenflektometrie zur Analyse von Dünnschichtsystemen Charakterisierung ultradünner Schichten |
| title_auth | Röntgenflektometrie zur Analyse von Dünnschichtsystemen Charakterisierung ultradünner Schichten |
| title_exact_search | Röntgenflektometrie zur Analyse von Dünnschichtsystemen Charakterisierung ultradünner Schichten |
| title_full | Röntgenflektometrie zur Analyse von Dünnschichtsystemen Charakterisierung ultradünner Schichten [2]: Technischer Anhang DiffTool Hilfe und Referenzhandbuch vorgelegt von Olaf Filies |
| title_fullStr | Röntgenflektometrie zur Analyse von Dünnschichtsystemen Charakterisierung ultradünner Schichten [2]: Technischer Anhang DiffTool Hilfe und Referenzhandbuch vorgelegt von Olaf Filies |
| title_full_unstemmed | Röntgenflektometrie zur Analyse von Dünnschichtsystemen Charakterisierung ultradünner Schichten [2]: Technischer Anhang DiffTool Hilfe und Referenzhandbuch vorgelegt von Olaf Filies |
| title_short | Röntgenflektometrie zur Analyse von Dünnschichtsystemen |
| title_sort | rontgenflektometrie zur analyse von dunnschichtsystemen charakterisierung ultradunner schichten difftool hilfe und referenzhandbuch |
| title_sub | Charakterisierung ultradünner Schichten |
| topic_facet | Hochschulschrift |
| volume_link | (DE-604)BV012172400 |
| work_keys_str_mv | AT filiesolaf rontgenflektometriezuranalysevondunnschichtsystemencharakterisierungultradunnerschichten2technischeranhang |