Verfahren zur elektrischen Defektanalyse:
Gespeichert in:
1. Verfasser: | |
---|---|
Format: | Abschlussarbeit Buch |
Sprache: | German |
Veröffentlicht: |
Düsseldorf
VDI Verl.
1998
|
Ausgabe: | Als Ms. gedr. |
Schriftenreihe: | Verein Deutscher Ingenieure: [Fortschritt-Berichte VDI / 9]
278 |
Schlagworte: | |
Beschreibung: | XI, 202 S. graph. Darst. |
ISBN: | 318327809X |
Internformat
MARC
LEADER | 00000nam a2200000 cb4500 | ||
---|---|---|---|
001 | BV012140036 | ||
003 | DE-604 | ||
005 | 19990218 | ||
007 | t | ||
008 | 980907s1998 d||| mm|| 00||| ger d | ||
020 | |a 318327809X |9 3-18-327809-X | ||
035 | |a (OCoLC)45562516 | ||
035 | |a (DE-599)BVBBV012140036 | ||
040 | |a DE-604 |b ger |e rakddb | ||
041 | 0 | |a ger | |
049 | |a DE-91 |a DE-210 |a DE-634 |a DE-83 | ||
084 | |a ZN 4031 |0 (DE-625)157340: |2 rvk | ||
084 | |a ELT 359d |2 stub | ||
100 | 1 | |a Hess, Christopher |e Verfasser |4 aut | |
245 | 1 | 0 | |a Verfahren zur elektrischen Defektanalyse |c Christopher Hess |
246 | 1 | 3 | |a Complexity-reduced multiuser detection algorithms for CDMA systems in cellular mobile radio |
250 | |a Als Ms. gedr. | ||
264 | 1 | |a Düsseldorf |b VDI Verl. |c 1998 | |
300 | |a XI, 202 S. |b graph. Darst. | ||
336 | |b txt |2 rdacontent | ||
337 | |b n |2 rdamedia | ||
338 | |b nc |2 rdacarrier | ||
490 | 1 | |a Verein Deutscher Ingenieure: [Fortschritt-Berichte VDI / 9] |v 278 | |
502 | |a Zugl.: Karlsruhe, Univ., Diss., 1998 | ||
650 | 0 | 7 | |a CAT |g Prüftechnik |0 (DE-588)4226679-8 |2 gnd |9 rswk-swf |
650 | 0 | 7 | |a Integrierte Schaltung |0 (DE-588)4027242-4 |2 gnd |9 rswk-swf |
650 | 0 | 7 | |a Elektrische Messung |0 (DE-588)4151742-8 |2 gnd |9 rswk-swf |
650 | 0 | 7 | |a Fehleranalyse |0 (DE-588)4016608-9 |2 gnd |9 rswk-swf |
650 | 0 | 7 | |a Fehlerortung |0 (DE-588)4236030-4 |2 gnd |9 rswk-swf |
650 | 0 | 7 | |a Halbleitertechnologie |0 (DE-588)4158814-9 |2 gnd |9 rswk-swf |
650 | 0 | 7 | |a Entwurfsautomation |0 (DE-588)4312536-0 |2 gnd |9 rswk-swf |
655 | 7 | |0 (DE-588)4113937-9 |a Hochschulschrift |2 gnd-content | |
689 | 0 | 0 | |a Integrierte Schaltung |0 (DE-588)4027242-4 |D s |
689 | 0 | 1 | |a Fehleranalyse |0 (DE-588)4016608-9 |D s |
689 | 0 | |5 DE-604 | |
689 | 1 | 0 | |a Halbleitertechnologie |0 (DE-588)4158814-9 |D s |
689 | 1 | 1 | |a Fehlerortung |0 (DE-588)4236030-4 |D s |
689 | 1 | 2 | |a Elektrische Messung |0 (DE-588)4151742-8 |D s |
689 | 1 | 3 | |a Integrierte Schaltung |0 (DE-588)4027242-4 |D s |
689 | 1 | 4 | |a CAT |g Prüftechnik |0 (DE-588)4226679-8 |D s |
689 | 1 | 5 | |a Entwurfsautomation |0 (DE-588)4312536-0 |D s |
689 | 1 | |5 DE-604 | |
810 | 2 | |a 9] |t Verein Deutscher Ingenieure: [Fortschritt-Berichte VDI |v 278 |w (DE-604)BV047505631 |9 278 | |
999 | |a oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-008222948 |
Datensatz im Suchindex
_version_ | 1804126749553852416 |
---|---|
any_adam_object | |
author | Hess, Christopher |
author_facet | Hess, Christopher |
author_role | aut |
author_sort | Hess, Christopher |
author_variant | c h ch |
building | Verbundindex |
bvnumber | BV012140036 |
classification_rvk | ZN 4031 |
classification_tum | ELT 359d |
ctrlnum | (OCoLC)45562516 (DE-599)BVBBV012140036 |
discipline | Elektrotechnik Elektrotechnik / Elektronik / Nachrichtentechnik |
edition | Als Ms. gedr. |
format | Thesis Book |
fullrecord | <?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?><collection xmlns="http://www.loc.gov/MARC21/slim"><record><leader>02233nam a2200553 cb4500</leader><controlfield tag="001">BV012140036</controlfield><controlfield tag="003">DE-604</controlfield><controlfield tag="005">19990218 </controlfield><controlfield tag="007">t</controlfield><controlfield tag="008">980907s1998 d||| mm|| 00||| ger d</controlfield><datafield tag="020" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">318327809X</subfield><subfield code="9">3-18-327809-X</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(OCoLC)45562516</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(DE-599)BVBBV012140036</subfield></datafield><datafield tag="040" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-604</subfield><subfield code="b">ger</subfield><subfield code="e">rakddb</subfield></datafield><datafield tag="041" ind1="0" ind2=" "><subfield code="a">ger</subfield></datafield><datafield tag="049" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-91</subfield><subfield code="a">DE-210</subfield><subfield code="a">DE-634</subfield><subfield code="a">DE-83</subfield></datafield><datafield tag="084" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">ZN 4031</subfield><subfield code="0">(DE-625)157340:</subfield><subfield code="2">rvk</subfield></datafield><datafield tag="084" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">ELT 359d</subfield><subfield code="2">stub</subfield></datafield><datafield tag="100" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Hess, Christopher</subfield><subfield code="e">Verfasser</subfield><subfield code="4">aut</subfield></datafield><datafield tag="245" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">Verfahren zur elektrischen Defektanalyse</subfield><subfield code="c">Christopher Hess</subfield></datafield><datafield tag="246" ind1="1" ind2="3"><subfield code="a">Complexity-reduced multiuser detection algorithms for CDMA systems in cellular mobile radio</subfield></datafield><datafield tag="250" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">Als Ms. gedr.</subfield></datafield><datafield tag="264" ind1=" " ind2="1"><subfield code="a">Düsseldorf</subfield><subfield code="b">VDI Verl.</subfield><subfield code="c">1998</subfield></datafield><datafield tag="300" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">XI, 202 S.</subfield><subfield code="b">graph. Darst.</subfield></datafield><datafield tag="336" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">txt</subfield><subfield code="2">rdacontent</subfield></datafield><datafield tag="337" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">n</subfield><subfield code="2">rdamedia</subfield></datafield><datafield tag="338" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">nc</subfield><subfield code="2">rdacarrier</subfield></datafield><datafield tag="490" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Verein Deutscher Ingenieure: [Fortschritt-Berichte VDI / 9]</subfield><subfield code="v">278</subfield></datafield><datafield tag="502" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">Zugl.: Karlsruhe, Univ., Diss., 1998</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">CAT</subfield><subfield code="g">Prüftechnik</subfield><subfield code="0">(DE-588)4226679-8</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Integrierte Schaltung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4027242-4</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Elektrische Messung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4151742-8</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Fehleranalyse</subfield><subfield code="0">(DE-588)4016608-9</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Fehlerortung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4236030-4</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Halbleitertechnologie</subfield><subfield code="0">(DE-588)4158814-9</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Entwurfsautomation</subfield><subfield code="0">(DE-588)4312536-0</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="655" ind1=" " ind2="7"><subfield code="0">(DE-588)4113937-9</subfield><subfield code="a">Hochschulschrift</subfield><subfield code="2">gnd-content</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="0"><subfield code="a">Integrierte Schaltung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4027242-4</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="1"><subfield code="a">Fehleranalyse</subfield><subfield code="0">(DE-588)4016608-9</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2=" "><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">Halbleitertechnologie</subfield><subfield code="0">(DE-588)4158814-9</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2="1"><subfield code="a">Fehlerortung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4236030-4</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2="2"><subfield code="a">Elektrische Messung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4151742-8</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2="3"><subfield code="a">Integrierte Schaltung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4027242-4</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2="4"><subfield code="a">CAT</subfield><subfield code="g">Prüftechnik</subfield><subfield code="0">(DE-588)4226679-8</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2="5"><subfield code="a">Entwurfsautomation</subfield><subfield code="0">(DE-588)4312536-0</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2=" "><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="810" ind1="2" ind2=" "><subfield code="a">9]</subfield><subfield code="t">Verein Deutscher Ingenieure: [Fortschritt-Berichte VDI</subfield><subfield code="v">278</subfield><subfield code="w">(DE-604)BV047505631</subfield><subfield code="9">278</subfield></datafield><datafield tag="999" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-008222948</subfield></datafield></record></collection> |
genre | (DE-588)4113937-9 Hochschulschrift gnd-content |
genre_facet | Hochschulschrift |
id | DE-604.BV012140036 |
illustrated | Illustrated |
indexdate | 2024-07-09T18:22:24Z |
institution | BVB |
isbn | 318327809X |
language | German |
oai_aleph_id | oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-008222948 |
oclc_num | 45562516 |
open_access_boolean | |
owner | DE-91 DE-BY-TUM DE-210 DE-634 DE-83 |
owner_facet | DE-91 DE-BY-TUM DE-210 DE-634 DE-83 |
physical | XI, 202 S. graph. Darst. |
publishDate | 1998 |
publishDateSearch | 1998 |
publishDateSort | 1998 |
publisher | VDI Verl. |
record_format | marc |
series2 | Verein Deutscher Ingenieure: [Fortschritt-Berichte VDI / 9] |
spelling | Hess, Christopher Verfasser aut Verfahren zur elektrischen Defektanalyse Christopher Hess Complexity-reduced multiuser detection algorithms for CDMA systems in cellular mobile radio Als Ms. gedr. Düsseldorf VDI Verl. 1998 XI, 202 S. graph. Darst. txt rdacontent n rdamedia nc rdacarrier Verein Deutscher Ingenieure: [Fortschritt-Berichte VDI / 9] 278 Zugl.: Karlsruhe, Univ., Diss., 1998 CAT Prüftechnik (DE-588)4226679-8 gnd rswk-swf Integrierte Schaltung (DE-588)4027242-4 gnd rswk-swf Elektrische Messung (DE-588)4151742-8 gnd rswk-swf Fehleranalyse (DE-588)4016608-9 gnd rswk-swf Fehlerortung (DE-588)4236030-4 gnd rswk-swf Halbleitertechnologie (DE-588)4158814-9 gnd rswk-swf Entwurfsautomation (DE-588)4312536-0 gnd rswk-swf (DE-588)4113937-9 Hochschulschrift gnd-content Integrierte Schaltung (DE-588)4027242-4 s Fehleranalyse (DE-588)4016608-9 s DE-604 Halbleitertechnologie (DE-588)4158814-9 s Fehlerortung (DE-588)4236030-4 s Elektrische Messung (DE-588)4151742-8 s CAT Prüftechnik (DE-588)4226679-8 s Entwurfsautomation (DE-588)4312536-0 s 9] Verein Deutscher Ingenieure: [Fortschritt-Berichte VDI 278 (DE-604)BV047505631 278 |
spellingShingle | Hess, Christopher Verfahren zur elektrischen Defektanalyse CAT Prüftechnik (DE-588)4226679-8 gnd Integrierte Schaltung (DE-588)4027242-4 gnd Elektrische Messung (DE-588)4151742-8 gnd Fehleranalyse (DE-588)4016608-9 gnd Fehlerortung (DE-588)4236030-4 gnd Halbleitertechnologie (DE-588)4158814-9 gnd Entwurfsautomation (DE-588)4312536-0 gnd |
subject_GND | (DE-588)4226679-8 (DE-588)4027242-4 (DE-588)4151742-8 (DE-588)4016608-9 (DE-588)4236030-4 (DE-588)4158814-9 (DE-588)4312536-0 (DE-588)4113937-9 |
title | Verfahren zur elektrischen Defektanalyse |
title_alt | Complexity-reduced multiuser detection algorithms for CDMA systems in cellular mobile radio |
title_auth | Verfahren zur elektrischen Defektanalyse |
title_exact_search | Verfahren zur elektrischen Defektanalyse |
title_full | Verfahren zur elektrischen Defektanalyse Christopher Hess |
title_fullStr | Verfahren zur elektrischen Defektanalyse Christopher Hess |
title_full_unstemmed | Verfahren zur elektrischen Defektanalyse Christopher Hess |
title_short | Verfahren zur elektrischen Defektanalyse |
title_sort | verfahren zur elektrischen defektanalyse |
topic | CAT Prüftechnik (DE-588)4226679-8 gnd Integrierte Schaltung (DE-588)4027242-4 gnd Elektrische Messung (DE-588)4151742-8 gnd Fehleranalyse (DE-588)4016608-9 gnd Fehlerortung (DE-588)4236030-4 gnd Halbleitertechnologie (DE-588)4158814-9 gnd Entwurfsautomation (DE-588)4312536-0 gnd |
topic_facet | CAT Prüftechnik Integrierte Schaltung Elektrische Messung Fehleranalyse Fehlerortung Halbleitertechnologie Entwurfsautomation Hochschulschrift |
volume_link | (DE-604)BV047505631 |
work_keys_str_mv | AT hesschristopher verfahrenzurelektrischendefektanalyse AT hesschristopher complexityreducedmultiuserdetectionalgorithmsforcdmasystemsincellularmobileradio |