Testbarkeitsanalyse analoger Schaltungen und Systeme: ein Beitrag zur Meß- und Prüftechnik elektronischer Systeme
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| Format: | Thesis Book |
| Language: | English |
| Published: |
Düsseldorf
VDI Verl.
1997
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| Edition: | Als Ms. gedr. |
| Series: | Verein Deutscher Ingenieure: [Fortschritt-Berichte VDI / 8]
676 |
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INHALTSVERZEICHNIS
V
INHALTSVERZEICHNIS
SYMBOLVERZEICHNIS
VIII
1
EINLEITUNG
1
1.1
ZIEL
DER
ARBEIT
1
1.2
AUFGABENSTELLUNG
2
1.3
LOESUNGSWEG
3
2
GRUNDLAGEN
ZUR
MODELLIERUNG
ANALOGER
SYSTEME
6
2.1
MODELLSTRUKTUR
BEI
ANALOGEN
SYSTEMEN
6
2.2
MODELLIERUNG
8
2.2.1
AEQUIVALENTE
SCHALTUNG
8
2.2.2
KETTENSCHALTUNG
9
2.2.3
PARALLELSCHALTUNG
10
2.2.4
RUECKKOPPLUNGSSCHALTUNG
10
2.2.5
BEISPIELE
11
2.3
EIGENSCHAFTEN
DER
GRUNDFUNKTIONEN
13
2.3.1
POLYNOMISCHE
DARSTELLUNG
13
2.3.2
EIGENSCHAFTEN
DER
GRUNDFUNKTIONEN
14
3
GRUNDLAGEN
ZUR
TESTBARKEITSANALYSE
16
3.1
MOEGLICHKEITEN
ZUR
BEWERTUNG
DER
TESTBARKEIT
16
3.2
DEFINITIONEN
DER
TESTBARKEIT
17
3.3
BEDINGUNGEN
FUER
TESTBARKEIT
BZW.
IDENTIFIZIERBARKEIT
17
3.3.1
ZEITBEREICH
18
3.3.2
PARAMETERBEREICH
18
3.3.3
FREQUENZBEREICH
20
3.4
BEISPIELE
20
3.5
ZUSAMMENFASSUNG
25
4
TESTBARKEITSANALYSE
ANALOGER
TEILSCHALTUNGEN
26
4.1
ANALYSE
DER
TESTBARKEIT
VON
SCHALTUNGEN
OHNE
CLUSTER
26
4.2
ANALYSE
DER
TESTBARKEIT
VON
SCHALTUNGEN
MIT
CLUSTER
27
VI
INHALTSVERZEICHNIS
4.2.1
TESTBARE
SCHALTUNGEN
BEI
TESTUNG
VON
ZWEI
MESSGROESSEN
28
4.2.2
TESTBARE
SCHALTUNGEN
BEI
TESTUNG
VON
DREI
MESSGROESSEN
29
4.2.3
NICHTTESTBARE
SCHALTUNGEN
30
5
TESTBARKEITSANALYSE
ZUSAMMENGESETZTER
SCHALTUNGEN
33
5.1
GRUNDLAGEN
ZUR
TESTBARKEITSANALYSE
33
5.1.1
ABHAENGIGKEIT
DER
KOEFFIZIENTEN
LINEARER
FUNKTIONEN
33
5.1.2
BESTIMMUNG
DER
ANZAHL
DER
ABHAENGIGEN
KOEFFIZIENTEN
35
5.1.3
BESTIMMUNG
DER
ANZAHL
DER
REDUZIERTEN
MODELLPARAMETER
36
IN
UNVOLLSTAENDIGEN
GRUNDFUNKTIONEN
5.2
BERECHNUNG
DER
MODELLPARAMETERANZAHL
38
5.2.1
RUECKWIRKUNGSFREIE
SCHALTUNGEN
38
5.2.2
RUECKWIRKUNGSBEHAFTETE
SCHALTUNGEN
39
5.3
TESTBARKEITSANALYSE
39
5.3.1
TESTBARKEITSANALYSE
DER
RUECKWIRKUNGSFREIEN
SCHALTUNGEN
40
5.3.2
TESTBARKEITSANALYSE
RUECKWIRKUNGSBEHAFTETER
SCHALTUNGEN
43
5.3.3
ZUSAMMENFASSUNG
46
6
BESTIMMUNG
UND
OPTIMIERUNG
VON
TESTBEDINGUNGEN
ANALOGER
SCHALTUNGEN
48
6.1
TESTBARKEITSMASSE
48
6.1.1
TESTBARKEITSMASS
AUF
DER
GRUNDLAGE
DER
TESTBARKEITSBEDINGUNG
48
6.1.2
TESTBARKEITSMASSE
AUF
DER
GRUNDLAGE
DER
EMPFINDLICHKEITSMATRIX
49
6.1.3
TESTBARKEITSMASS
AUF
DER
GRUNDLAGE
DES
WIRKUNGSFAKTORS
49
DER
PARAMETERFEHLER
6.2
BESTIMMUNG
OPTIMALER
TESTBEDINGUNGEN
50
6.2.1
BESTIMMUNG
DER
MESSGROESSEN
50
6.2.2
AUSWAHL
DER
TESTSIGNALE
51
6.3
BERECHNUNG
DER
EMPFINDLICHKEITEN
51
6.3.1
SERIENSCHALTUNGEN
53
6.3.2
PARALLELSCHALTUNGEN
55
6.4
BERECHNUNG
DES
WIRKUNGSFAKTORS
56
6.5
BEISPIELE
58
7
MESSUNG
DER
GRUNDFUNKTIONEN
ANALOGER
SCHALTUNGEN
63
7.1
MESSUNG
DER
IMPEDANZEN
63
7.2
MESSUNG
DER
UEBERTRAGUNGSFIINKTION
64
7.3
ABSCHAETZUNG
DER
GENAUIGKEIT
DER
METHODEN
DURCH
SIMULATION
66
INHALTSVERZEICHNIS
VD
7.4
MESSSYSTEM
68
7.5
MASSNAHMEN
ZUR
ERHOEHUNG
DER
MESSGENAUIGKEIT
69
7.5.1
MITTELWERTBILDUNG
69
7.5.2
FEHLERKORREKTUR
BZW.
-KOMPENSATION
70
7.6
MESSERGEBNISSE
AN
BEISPIELEN
71
7.6.1
PRUEFUNG
DER
GENAUIGKEIT
DER
MESSMETHODE
71
7.6.2
MESSUNG
DER
GRUNDFUNKTIONEN
EINER
ANALOGEN
SCHALTUNG
71
7.6.3
ZUSAMMENFASSUNG
73
8
PARAMETERBESTIMMUNG
ANALOGER
SCHALTUNGEN
UND
SYSTEME
74
8.1
METHODE
ZUR
PARAMETERBESTIMMUNG
74
8.1.1
PARAMETERBESTIMMUNG
IM
FREQUENZBEREICH
74
8.1.2
ALGORITHMUS
ZUR
PARAMETERBESTIMMUNG
75
8.2
PARAMETERBESTIMMUNG
FUER
SCHALTUNGEN
DER
TBKL
75
8.2.1
THEORETISCHE
GRUNDLAGE
75
8.2.2
BEISPIEL
76
8.3
PARAMETERBESTIMMUNG
FUER
SCHALTUNGEN
DER
TBK2
78
8.3.1
THEORETISCHE
GRUNDLAGE
78
8.3.2
BEISPIEL
79
8.4
PARAMETERBESTIMMUNG
DER
SCHALTUNGEN
DER
TBK3/TBK4
80
8.5
PARAMETERBESTIMMUNG
NICHTTESTBARER
SCHALTUNGEN
82
9
VORSCHLAEGE
ZUM
ENTWURF
TESTFREUNDLICHER
ANALOGER
SCHALTUNGEN
85
9.1
MASSNAHMEN
ZUR
SICHERUNG
UND
VERBESSERUNG
DER
TESTBARKEIT
85
9.2
MASSNAHMEN,
DIE
AUF
EINER
VERBESSERUNG
DER
TESTBEDINGUNGEN
BASIEREN
88
9.3
MASSNAHME
FOLGEND
AUS
REALISIERUNGSBEDINGUNGEN
FUER
DIE
PARAMETERBESTIMMUNG
88
10
ZUSAMMENFASSUNG
90
11
AUSBLICK
93
12
ANHAENGE
94
13
LITERATURVERZEICHNIS
108 |
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