(1997). Scanning tunneling microscopy: Special issue. Japanese Journal of Applied Physics.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Scanning Tunneling Microscopy: Special Issue. Tokyo: Japanese Journal of Applied Physics, 1997.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Scanning Tunneling Microscopy: Special Issue. Japanese Journal of Applied Physics, 1997.
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