Dreiländertagung Elektronenmikroskopie: Regensburg, 8. bis 12. September 1997 ; abstracts ; Tagung der Schweizerischen Gesellschaft für Optik und Elektronenmikroskopie (SGOEM/SSOME), Tagung der Österreichischen Gesellschaft für Elektronenmikroskopie (ÖGEM), 28. Tagung der Deutschen Gesellschaft für Elektronenmikroskopie e.V. (DGE) einschließlich Arbeitskreise Kryo-Elektronenmikroskopie und Rastertunnelmikroskopie (STM), sowie 30. Kolloquium des Arbeitskreises für Elektronenmikroskopische Direktabbildung und Analyse der Oberflächen (EDO)
Saved in:
| Corporate Author: | |
|---|---|
| Format: | Conference Proceeding Book |
| Language: | English German |
| Published: |
Stuttgart
Wiss. Verl.-Ges.
1997
|
| Series: | Optik
Supplement ; 7 European journal of cell biology Supplement ; 45 |
| Subjects: | |
| Physical Description: | 134 S. |
| ISSN: | 0724-5130 |
Staff View
MARC
| LEADER | 00000nam a2200000 cb4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | BV011520346 | ||
| 003 | DE-604 | ||
| 005 | 20240306 | ||
| 007 | t | ||
| 008 | 970904s1997 |||| 10||| eng d | ||
| 035 | |a (OCoLC)643886434 | ||
| 035 | |a (DE-599)BVBBV011520346 | ||
| 040 | |a DE-604 |b ger |e rakddb | ||
| 041 | 0 | |a eng |a ger | |
| 049 | |a DE-29T |a DE-703 |a DE-20 |a DE-210 |a DE-12 |a DE-706 | ||
| 111 | 2 | |a Dreiländertagung Elektronenmikroskopie |d 1997 |c Regensburg |j Verfasser |0 (DE-588)5250561-3 |4 aut | |
| 245 | 1 | 0 | |a Dreiländertagung Elektronenmikroskopie |b Regensburg, 8. bis 12. September 1997 ; abstracts ; Tagung der Schweizerischen Gesellschaft für Optik und Elektronenmikroskopie (SGOEM/SSOME), Tagung der Österreichischen Gesellschaft für Elektronenmikroskopie (ÖGEM), 28. Tagung der Deutschen Gesellschaft für Elektronenmikroskopie e.V. (DGE) einschließlich Arbeitskreise Kryo-Elektronenmikroskopie und Rastertunnelmikroskopie (STM), sowie 30. Kolloquium des Arbeitskreises für Elektronenmikroskopische Direktabbildung und Analyse der Oberflächen (EDO) |
| 264 | 1 | |a Stuttgart |b Wiss. Verl.-Ges. |c 1997 | |
| 300 | |a 134 S. | ||
| 336 | |b txt |2 rdacontent | ||
| 337 | |b n |2 rdamedia | ||
| 338 | |b nc |2 rdacarrier | ||
| 490 | 1 | |a Optik : Supplement |v 7 | |
| 490 | 1 | |a European journal of cell biology : Supplement |v 45 |x 0724-5130 | |
| 650 | 0 | 7 | |a Elektronenmikroskopie |0 (DE-588)4014327-2 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 655 | 7 | |0 (DE-588)1071861417 |a Konferenzschrift |y 1997 |z Regensburg |2 gnd-content | |
| 689 | 0 | 0 | |a Elektronenmikroskopie |0 (DE-588)4014327-2 |D s |
| 689 | 0 | |5 DE-604 | |
| 710 | 2 | |a Schweizerische Gesellschaft für Optik und Elektronenmikroskopie |e Sonstige |0 (DE-588)3002608-8 |4 oth | |
| 710 | 2 | |a Deutsche Gesellschaft für Elektronenmikroskopie |e Sonstige |0 (DE-588)2008211-3 |4 oth | |
| 710 | 2 | |a Deutsche Gesellschaft für Elektronenmikroskopie |b Arbeitskreis für Elektronenmikroskopische Direktabbildung und Analyse von Oberflächen |e Sonstige |0 (DE-588)512545-5 |4 oth | |
| 830 | 0 | |a Optik |v Supplement ; 7 |w (DE-604)BV005628654 |9 7 | |
| 830 | 0 | |a European journal of cell biology |v Supplement ; 45 |w (DE-604)BV005628038 |9 45 | |
| 999 | |a oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-007752247 | ||
Record in the Search Index
| _version_ | 1804126040697602048 |
|---|---|
| any_adam_object | |
| author_corporate | Dreiländertagung Elektronenmikroskopie Regensburg |
| author_corporate_role | aut |
| author_facet | Dreiländertagung Elektronenmikroskopie Regensburg |
| author_sort | Dreiländertagung Elektronenmikroskopie Regensburg |
| building | Verbundindex |
| bvnumber | BV011520346 |
| ctrlnum | (OCoLC)643886434 (DE-599)BVBBV011520346 |
| format | Conference Proceeding Book |
| fullrecord | <?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?><collection xmlns="http://www.loc.gov/MARC21/slim"><record><leader>02161nam a2200373 cb4500</leader><controlfield tag="001">BV011520346</controlfield><controlfield tag="003">DE-604</controlfield><controlfield tag="005">20240306 </controlfield><controlfield tag="007">t</controlfield><controlfield tag="008">970904s1997 |||| 10||| eng d</controlfield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(OCoLC)643886434</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(DE-599)BVBBV011520346</subfield></datafield><datafield tag="040" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-604</subfield><subfield code="b">ger</subfield><subfield code="e">rakddb</subfield></datafield><datafield tag="041" ind1="0" ind2=" "><subfield code="a">eng</subfield><subfield code="a">ger</subfield></datafield><datafield tag="049" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-29T</subfield><subfield code="a">DE-703</subfield><subfield code="a">DE-20</subfield><subfield code="a">DE-210</subfield><subfield code="a">DE-12</subfield><subfield code="a">DE-706</subfield></datafield><datafield tag="111" ind1="2" ind2=" "><subfield code="a">Dreiländertagung Elektronenmikroskopie</subfield><subfield code="d">1997</subfield><subfield code="c">Regensburg</subfield><subfield code="j">Verfasser</subfield><subfield code="0">(DE-588)5250561-3</subfield><subfield code="4">aut</subfield></datafield><datafield tag="245" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">Dreiländertagung Elektronenmikroskopie</subfield><subfield code="b">Regensburg, 8. bis 12. September 1997 ; abstracts ; Tagung der Schweizerischen Gesellschaft für Optik und Elektronenmikroskopie (SGOEM/SSOME), Tagung der Österreichischen Gesellschaft für Elektronenmikroskopie (ÖGEM), 28. Tagung der Deutschen Gesellschaft für Elektronenmikroskopie e.V. (DGE) einschließlich Arbeitskreise Kryo-Elektronenmikroskopie und Rastertunnelmikroskopie (STM), sowie 30. Kolloquium des Arbeitskreises für Elektronenmikroskopische Direktabbildung und Analyse der Oberflächen (EDO)</subfield></datafield><datafield tag="264" ind1=" " ind2="1"><subfield code="a">Stuttgart</subfield><subfield code="b">Wiss. Verl.-Ges.</subfield><subfield code="c">1997</subfield></datafield><datafield tag="300" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">134 S.</subfield></datafield><datafield tag="336" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">txt</subfield><subfield code="2">rdacontent</subfield></datafield><datafield tag="337" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">n</subfield><subfield code="2">rdamedia</subfield></datafield><datafield tag="338" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">nc</subfield><subfield code="2">rdacarrier</subfield></datafield><datafield tag="490" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Optik : Supplement</subfield><subfield code="v">7</subfield></datafield><datafield tag="490" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">European journal of cell biology : Supplement</subfield><subfield code="v">45</subfield><subfield code="x">0724-5130</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Elektronenmikroskopie</subfield><subfield code="0">(DE-588)4014327-2</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="655" ind1=" " ind2="7"><subfield code="0">(DE-588)1071861417</subfield><subfield code="a">Konferenzschrift</subfield><subfield code="y">1997</subfield><subfield code="z">Regensburg</subfield><subfield code="2">gnd-content</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="0"><subfield code="a">Elektronenmikroskopie</subfield><subfield code="0">(DE-588)4014327-2</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2=" "><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="710" ind1="2" ind2=" "><subfield code="a">Schweizerische Gesellschaft für Optik und Elektronenmikroskopie</subfield><subfield code="e">Sonstige</subfield><subfield code="0">(DE-588)3002608-8</subfield><subfield code="4">oth</subfield></datafield><datafield tag="710" ind1="2" ind2=" "><subfield code="a">Deutsche Gesellschaft für Elektronenmikroskopie</subfield><subfield code="e">Sonstige</subfield><subfield code="0">(DE-588)2008211-3</subfield><subfield code="4">oth</subfield></datafield><datafield tag="710" ind1="2" ind2=" "><subfield code="a">Deutsche Gesellschaft für Elektronenmikroskopie</subfield><subfield code="b">Arbeitskreis für Elektronenmikroskopische Direktabbildung und Analyse von Oberflächen</subfield><subfield code="e">Sonstige</subfield><subfield code="0">(DE-588)512545-5</subfield><subfield code="4">oth</subfield></datafield><datafield tag="830" ind1=" " ind2="0"><subfield code="a">Optik</subfield><subfield code="v">Supplement ; 7</subfield><subfield code="w">(DE-604)BV005628654</subfield><subfield code="9">7</subfield></datafield><datafield tag="830" ind1=" " ind2="0"><subfield code="a">European journal of cell biology</subfield><subfield code="v">Supplement ; 45</subfield><subfield code="w">(DE-604)BV005628038</subfield><subfield code="9">45</subfield></datafield><datafield tag="999" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-007752247</subfield></datafield></record></collection> |
| genre | (DE-588)1071861417 Konferenzschrift 1997 Regensburg gnd-content |
| genre_facet | Konferenzschrift 1997 Regensburg |
| id | DE-604.BV011520346 |
| illustrated | Not Illustrated |
| indexdate | 2024-07-09T18:11:08Z |
| institution | BVB |
| institution_GND | (DE-588)5250561-3 (DE-588)3002608-8 (DE-588)2008211-3 (DE-588)512545-5 |
| issn | 0724-5130 |
| language | English German |
| oai_aleph_id | oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-007752247 |
| oclc_num | 643886434 |
| open_access_boolean | |
| owner | DE-29T DE-703 DE-20 DE-210 DE-12 DE-706 |
| owner_facet | DE-29T DE-703 DE-20 DE-210 DE-12 DE-706 |
| physical | 134 S. |
| publishDate | 1997 |
| publishDateSearch | 1997 |
| publishDateSort | 1997 |
| publisher | Wiss. Verl.-Ges. |
| record_format | marc |
| series | Optik European journal of cell biology |
| series2 | Optik : Supplement European journal of cell biology : Supplement |
| spelling | Dreiländertagung Elektronenmikroskopie 1997 Regensburg Verfasser (DE-588)5250561-3 aut Dreiländertagung Elektronenmikroskopie Regensburg, 8. bis 12. September 1997 ; abstracts ; Tagung der Schweizerischen Gesellschaft für Optik und Elektronenmikroskopie (SGOEM/SSOME), Tagung der Österreichischen Gesellschaft für Elektronenmikroskopie (ÖGEM), 28. Tagung der Deutschen Gesellschaft für Elektronenmikroskopie e.V. (DGE) einschließlich Arbeitskreise Kryo-Elektronenmikroskopie und Rastertunnelmikroskopie (STM), sowie 30. Kolloquium des Arbeitskreises für Elektronenmikroskopische Direktabbildung und Analyse der Oberflächen (EDO) Stuttgart Wiss. Verl.-Ges. 1997 134 S. txt rdacontent n rdamedia nc rdacarrier Optik : Supplement 7 European journal of cell biology : Supplement 45 0724-5130 Elektronenmikroskopie (DE-588)4014327-2 gnd rswk-swf (DE-588)1071861417 Konferenzschrift 1997 Regensburg gnd-content Elektronenmikroskopie (DE-588)4014327-2 s DE-604 Schweizerische Gesellschaft für Optik und Elektronenmikroskopie Sonstige (DE-588)3002608-8 oth Deutsche Gesellschaft für Elektronenmikroskopie Sonstige (DE-588)2008211-3 oth Deutsche Gesellschaft für Elektronenmikroskopie Arbeitskreis für Elektronenmikroskopische Direktabbildung und Analyse von Oberflächen Sonstige (DE-588)512545-5 oth Optik Supplement ; 7 (DE-604)BV005628654 7 European journal of cell biology Supplement ; 45 (DE-604)BV005628038 45 |
| spellingShingle | Dreiländertagung Elektronenmikroskopie Regensburg, 8. bis 12. September 1997 ; abstracts ; Tagung der Schweizerischen Gesellschaft für Optik und Elektronenmikroskopie (SGOEM/SSOME), Tagung der Österreichischen Gesellschaft für Elektronenmikroskopie (ÖGEM), 28. Tagung der Deutschen Gesellschaft für Elektronenmikroskopie e.V. (DGE) einschließlich Arbeitskreise Kryo-Elektronenmikroskopie und Rastertunnelmikroskopie (STM), sowie 30. Kolloquium des Arbeitskreises für Elektronenmikroskopische Direktabbildung und Analyse der Oberflächen (EDO) Optik European journal of cell biology Elektronenmikroskopie (DE-588)4014327-2 gnd |
| subject_GND | (DE-588)4014327-2 (DE-588)1071861417 |
| title | Dreiländertagung Elektronenmikroskopie Regensburg, 8. bis 12. September 1997 ; abstracts ; Tagung der Schweizerischen Gesellschaft für Optik und Elektronenmikroskopie (SGOEM/SSOME), Tagung der Österreichischen Gesellschaft für Elektronenmikroskopie (ÖGEM), 28. Tagung der Deutschen Gesellschaft für Elektronenmikroskopie e.V. (DGE) einschließlich Arbeitskreise Kryo-Elektronenmikroskopie und Rastertunnelmikroskopie (STM), sowie 30. Kolloquium des Arbeitskreises für Elektronenmikroskopische Direktabbildung und Analyse der Oberflächen (EDO) |
| title_auth | Dreiländertagung Elektronenmikroskopie Regensburg, 8. bis 12. September 1997 ; abstracts ; Tagung der Schweizerischen Gesellschaft für Optik und Elektronenmikroskopie (SGOEM/SSOME), Tagung der Österreichischen Gesellschaft für Elektronenmikroskopie (ÖGEM), 28. Tagung der Deutschen Gesellschaft für Elektronenmikroskopie e.V. (DGE) einschließlich Arbeitskreise Kryo-Elektronenmikroskopie und Rastertunnelmikroskopie (STM), sowie 30. Kolloquium des Arbeitskreises für Elektronenmikroskopische Direktabbildung und Analyse der Oberflächen (EDO) |
| title_exact_search | Dreiländertagung Elektronenmikroskopie Regensburg, 8. bis 12. September 1997 ; abstracts ; Tagung der Schweizerischen Gesellschaft für Optik und Elektronenmikroskopie (SGOEM/SSOME), Tagung der Österreichischen Gesellschaft für Elektronenmikroskopie (ÖGEM), 28. Tagung der Deutschen Gesellschaft für Elektronenmikroskopie e.V. (DGE) einschließlich Arbeitskreise Kryo-Elektronenmikroskopie und Rastertunnelmikroskopie (STM), sowie 30. Kolloquium des Arbeitskreises für Elektronenmikroskopische Direktabbildung und Analyse der Oberflächen (EDO) |
| title_full | Dreiländertagung Elektronenmikroskopie Regensburg, 8. bis 12. September 1997 ; abstracts ; Tagung der Schweizerischen Gesellschaft für Optik und Elektronenmikroskopie (SGOEM/SSOME), Tagung der Österreichischen Gesellschaft für Elektronenmikroskopie (ÖGEM), 28. Tagung der Deutschen Gesellschaft für Elektronenmikroskopie e.V. (DGE) einschließlich Arbeitskreise Kryo-Elektronenmikroskopie und Rastertunnelmikroskopie (STM), sowie 30. Kolloquium des Arbeitskreises für Elektronenmikroskopische Direktabbildung und Analyse der Oberflächen (EDO) |
| title_fullStr | Dreiländertagung Elektronenmikroskopie Regensburg, 8. bis 12. September 1997 ; abstracts ; Tagung der Schweizerischen Gesellschaft für Optik und Elektronenmikroskopie (SGOEM/SSOME), Tagung der Österreichischen Gesellschaft für Elektronenmikroskopie (ÖGEM), 28. Tagung der Deutschen Gesellschaft für Elektronenmikroskopie e.V. (DGE) einschließlich Arbeitskreise Kryo-Elektronenmikroskopie und Rastertunnelmikroskopie (STM), sowie 30. Kolloquium des Arbeitskreises für Elektronenmikroskopische Direktabbildung und Analyse der Oberflächen (EDO) |
| title_full_unstemmed | Dreiländertagung Elektronenmikroskopie Regensburg, 8. bis 12. September 1997 ; abstracts ; Tagung der Schweizerischen Gesellschaft für Optik und Elektronenmikroskopie (SGOEM/SSOME), Tagung der Österreichischen Gesellschaft für Elektronenmikroskopie (ÖGEM), 28. Tagung der Deutschen Gesellschaft für Elektronenmikroskopie e.V. (DGE) einschließlich Arbeitskreise Kryo-Elektronenmikroskopie und Rastertunnelmikroskopie (STM), sowie 30. Kolloquium des Arbeitskreises für Elektronenmikroskopische Direktabbildung und Analyse der Oberflächen (EDO) |
| title_short | Dreiländertagung Elektronenmikroskopie |
| title_sort | dreilandertagung elektronenmikroskopie regensburg 8 bis 12 september 1997 abstracts tagung der schweizerischen gesellschaft fur optik und elektronenmikroskopie sgoem ssome tagung der osterreichischen gesellschaft fur elektronenmikroskopie ogem 28 tagung der deutschen gesellschaft fur elektronenmikroskopie e v dge einschließlich arbeitskreise kryo elektronenmikroskopie und rastertunnelmikroskopie stm sowie 30 kolloquium des arbeitskreises fur elektronenmikroskopische direktabbildung und analyse der oberflachen edo |
| title_sub | Regensburg, 8. bis 12. September 1997 ; abstracts ; Tagung der Schweizerischen Gesellschaft für Optik und Elektronenmikroskopie (SGOEM/SSOME), Tagung der Österreichischen Gesellschaft für Elektronenmikroskopie (ÖGEM), 28. Tagung der Deutschen Gesellschaft für Elektronenmikroskopie e.V. (DGE) einschließlich Arbeitskreise Kryo-Elektronenmikroskopie und Rastertunnelmikroskopie (STM), sowie 30. Kolloquium des Arbeitskreises für Elektronenmikroskopische Direktabbildung und Analyse der Oberflächen (EDO) |
| topic | Elektronenmikroskopie (DE-588)4014327-2 gnd |
| topic_facet | Elektronenmikroskopie Konferenzschrift 1997 Regensburg |
| volume_link | (DE-604)BV005628654 (DE-604)BV005628038 |
| work_keys_str_mv | AT dreilandertagungelektronenmikroskopieregensburg dreilandertagungelektronenmikroskopieregensburg8bis12september1997abstractstagungderschweizerischengesellschaftfuroptikundelektronenmikroskopiesgoemssometagungderosterreichischengesellschaftfurelektronenmikroskopieogem28tagungderdeutschengesellschaftfurel AT schweizerischegesellschaftfuroptikundelektronenmikroskopie dreilandertagungelektronenmikroskopieregensburg8bis12september1997abstractstagungderschweizerischengesellschaftfuroptikundelektronenmikroskopiesgoemssometagungderosterreichischengesellschaftfurelektronenmikroskopieogem28tagungderdeutschengesellschaftfurel AT deutschegesellschaftfurelektronenmikroskopie dreilandertagungelektronenmikroskopieregensburg8bis12september1997abstractstagungderschweizerischengesellschaftfuroptikundelektronenmikroskopiesgoemssometagungderosterreichischengesellschaftfurelektronenmikroskopieogem28tagungderdeutschengesellschaftfurel AT deutschegesellschaftfurelektronenmikroskopiearbeitskreisfurelektronenmikroskopischedirektabbildungundanalysevonoberflachen dreilandertagungelektronenmikroskopieregensburg8bis12september1997abstractstagungderschweizerischengesellschaftfuroptikundelektronenmikroskopiesgoemssometagungderosterreichischengesellschaftfurelektronenmikroskopieogem28tagungderdeutschengesellschaftfurel |