Ab-initio-Berechnung der (110)Oberfläche von III - V-Halbleitern: Simulation von Rastertunnelmikroskopie-Aufnahmen
Gespeichert in:
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| Format: | Abschlussarbeit Buch |
| Sprache: | German |
| Veröffentlicht: |
1996
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| Schlagworte: | |
| Beschreibung: | Aachen, Techn. Hochsch., Diss., 1996. - Auch als: Berichte des Forschungszentrums Jülich. 3215 |
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