Elektronenmikroskopische Untersuchung von Korngrenzen in epitaktischen YBa 2 Cu 3 O 7 -Dünnfilmen auf SrTiO 3 -Bikristall-Substraten:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Seo, Jin-Won (VerfasserIn)
Format: Abschlussarbeit Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: 1995
Schlagworte:
Beschreibung:Aachen, Techn. Hochsch., Diss., 1995. - Auch als: Berichte des Forschungszentrums Jülich. 3177
Beschreibung:127 S. Ill., graph. Darst.

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