Verfügbarkeit: Testverfahren in der Mikroelektronik

Testverfahren in der Mikroelektronik: Methoden und Werkzeuge ; mit 27 Tabellen

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Daehn, Wilfried (VerfasserIn)
Format:	Buch
Sprache:	German
Veröffentlicht:	Berlin [u.a.] Springer 1997
Schriftenreihe:	Mikroelektronik
Schlagworte:	Mikroelektronik Testen Digitale integrierte Schaltung Logische Schaltung Fehlererkennung Test Selbsttest Testbarkeit Testmuster Algorithmus Lehrbuch
Online-Zugang:	Inhaltsverzeichnis
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ISBN:	3540617280

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spelling	Daehn, Wilfried Verfasser aut Testverfahren in der Mikroelektronik Methoden und Werkzeuge ; mit 27 Tabellen Wilfried Daehn Berlin [u.a.] Springer 1997 XI, 219 S. Ill. txt rdacontent n rdamedia nc rdacarrier Mikroelektronik Mikroelektronik (DE-588)4039207-7 gnd rswk-swf Testen (DE-588)4367264-4 gnd rswk-swf Digitale integrierte Schaltung (DE-588)4113313-4 gnd rswk-swf Logische Schaltung (DE-588)4131023-8 gnd rswk-swf Fehlererkennung (DE-588)4133764-5 gnd rswk-swf Test (DE-588)4059549-3 gnd rswk-swf Selbsttest (DE-588)4054433-3 gnd rswk-swf Testbarkeit (DE-588)4271826-0 gnd rswk-swf Testmuster (DE-588)4241057-5 gnd rswk-swf Algorithmus (DE-588)4001183-5 gnd rswk-swf (DE-588)4123623-3 Lehrbuch gnd-content Mikroelektronik (DE-588)4039207-7 s Test (DE-588)4059549-3 s DE-604 Digitale integrierte Schaltung (DE-588)4113313-4 s Testbarkeit (DE-588)4271826-0 s Fehlererkennung (DE-588)4133764-5 s Selbsttest (DE-588)4054433-3 s Logische Schaltung (DE-588)4131023-8 s Testmuster (DE-588)4241057-5 s Algorithmus (DE-588)4001183-5 s Testen (DE-588)4367264-4 s DNB Datenaustausch application/pdf http://bvbr.bib-bvb.de:8991/F?func=service&doc_library=BVB01&local_base=BVB01&doc_number=007389691&sequence=000001&line_number=0001&func_code=DB_RECORDS&service_type=MEDIA Inhaltsverzeichnis
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