Ion beam surface layer analysis: proceedings of the international conference held on June 18 - 20, 1973, in Yorktown Heights, N.Y.
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Format: Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Lausanne Elsevier 1974
Schlagworte:
Beschreibung:Aus: Thin solid films ; 19 (1973)
Beschreibung:VIII, 463 S. graph. Darst.
ISBN:044419536X

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