Off-Axis-STEM-Holographie: erweiterte Untersuchung der Grundlagen und Einsatz eines Computers zur Mikroskopsteuerung und Signalauswertung
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Bibliographic Details
Main Author: Sum, Jürgen (Author)
Format: Thesis Book
Language:German
Published: 1995
Subjects:
Physical Description:99 S. Ill., graph. Darst.

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