Defect and impurity engineered semiconductors and devices: symposium held April 17 - 21, 1995, San Francisco, California, U.S.A.
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Format: Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Pittsburgh, Pa. Materials Research Soc. 1995
Schriftenreihe:Materials Research Society: Materials Research Society symposia proceedings 378
Schlagworte:
Beschreibung:XXI, 1054 S. Ill., zahlr. graph. Darst.
ISBN:1558992812

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