Flugzeit-Photoelektronenspektroskopie an Metallinseln und Metallclusteradsorbaten auf reinen Si(111)- und oxidierten Si(111)-Kristallen mit gepulstem vakuum-ultravioletten Laserlicht:
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INHALTSVERZEICHNIS
1
EINLEITUNG
1
2
THEORETISCHER
HINTERGRUND
UND
STAND
DER
FORSCHUNG
7
2.1
PHOTOELEKTRONENSPEKTROSKOPIE
AN
FESTKOERPERN
7
2.2
PHOTOELEKTRONENSPEKTROSKOPIE
AN
METALLCLUSTERADSORBATEN
12
2.2.1
METALLCLUSTER
13
2.2.2
METALLCLUSTERADSORBATE
21
3
DAS
EXPERIMENT
30
3.1
FLUGZEIT-PHOTOELEKTRONENSPEKTROMETER
32
3.1
1
VUEV-LICHTQUELLE
32
3.1
2
ENERGIEANALYSATOR
47
3.1.3
CHARAKTERISTISCHE
DATEN
DES
SPEKTROMETERS
48
3.2
TESTMESSUNGEN
AN
SI(L
11)
UND
AN
OXIDIERTEN
SI(LLL)-KRISTALLEN
52
3.3
HERSTELLUNG
VON
ADSORBATEN
DURCH
CLUSTERDEPOSITION
63
3.4
RUTHERFORD-BACKSCATTERING-SPEKTROSKOPIE
UND
RASTERELEKTRONENMIKROSKOPIE
67
4
ERGEBNISSE
UND
AUSWERTUNG
70
4
1
TOF-UPS
AN
PB-INSELN
AUF
SI(L
11)
UND
SIO
2
/SI(L
11)
70
4
1.1
VALENZBANDSPEKTREN
70
4.1
2
BAND-BAND-UEBERGAENGE
IN
PB-KRISTALLEN
76
4
1.3
RBS-UND
REM-UNTERSUCHUNGEN
79
4
1.4
ZUSAMMENFASSUNG
DER
TOF-UPS-,
RBS-UND
REM-ERGEBNISSE
83
4.2
TOF-UPS
AN
PB-CLUSTERADSORBATEN
AUF
SIO
2
/SI(L
11)
85
4.2.1
VALENZBANDSPEKTREN
IN
ABHAENGIGKEIT
VON
DER
PB-BEDECKUNG
85
4.2.2
PHOTONENINDUZIERTE
PROZESSE
92
5
DISKUSSION
96
5
1
INTERPRETATION
DER
VALENZBANDSPEKTREN
DER
PB-INSELN
96
5.2
DISKUSSION
DER
VALENZBANDSPEKTREN
DER
PB-CLUSTERADSORBATE
102
6
ZUSAMMENFASSUNG
UND
AUSBLICK
115
ANHANG
GRUNDLAGEN
DES
TOF-SPEKTROMETERS
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