Erzeugung steilflankiger Feldimpulse für vergleichende Störfestigkeitsuntersuchungen:
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Düsseldorf
VDI-Verl.
1995
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| adam_text | Titel: Erzeugung steilflankiger Feldimpulse für vergleichende Störfestigkeitsuntersuchungen
Autor: Schütte, Andreas
Jahr: 1995
Inhaltsverzeichnis V Erzeugung steilflankigcr Feldimpulse für vergleichende Störfestigkeitsuntersuchungen Einleitung........................................................................................................................1 1 Anforderungen an eine Breitband-Prüftechnik mit Fddimpulsen....................................5 1.1 Beschreibung pulsförmiger Signale im Frequenzbereich..............................................7 1.1.1 Mathematische Grundlagen der Fourier-Analyse ................................................7 1.1.2 Parametrischer Vergleich der Amplitudendichte verschiedener Impulse ...........16 1.1.3 Quantitativer Vergleich von pulsförmiger und harmonischer Anregung. ...........22 1.2 Erzeugung von elektromagnetischen Feldern für EMV Prüfungen............................27 2 Erzeugung steiler Hochspannungsimpulse...................................................................31 2.1 Stoßkreise mit Kondensatoren als Energiespeicher...................................................32
2.2 Stoßkreise mit Leitungsspeichem.............................................................................36 2.3 Hochspannungs-Schaltelemente...............................................................................38 2.3.1 Funkenstrecken .................................................................................................39 2.3.2 Halbleiterschalter. .............................................................................................44 3 Aufbau und Funktionsweise des Impulsgenerators.......................................................47 3.1 Einflußparameter für die Impulsform................................... 49 3.1.1 Abfallzeit. .........................................................................................................49 3.1.2 Anstiegszeit ......................................................................................................51 3.1.3 Impulsdauer. .....................................................................................................52
3.2 Koaxiale Funkenstrecke...........................................................................................52 3.2.1 Funktionsweise ..................................................................................... 52 3.2.2 Konstruktionsmerkmale ....................................................................................56 3.2.3 Triggerung. .......................................................................................................59 3.2.4 Überprüfung der Kenndaten. .............................................................................59 3.3 TEM-Wellenleiter....................................................................................................62
VI Inhaltsverzeichnis 4 Meßeinrichtungen.......................................................................................................70 4.1 Aktiver Tastkopf.....................................................................................................71 4.2 Kapazitiver Spannungsteiler.....................................................................................72 4.3 Kapazitiver Feldsensor.............................................................................................77 5 Vergleich von Störfestigkeitsuntersuchungen.............................................................80 5.1 Einkopplungs-Mechanismen....................................................................................80 5.1.1 Wirkung des magnetischen Feldes - Induktionsgesetz. .....................................82 5.1.2 Wirkung des elektrischen Feldes ......................................................................83 5.2 Resonanzeffekte in Störsenken................................................................................85
5.3 Prüfobjekte..............................................................................................................87 5.3.1 Rundleiter ............................................................................... 88 5.3.2 Leiterbahnen auf Platinen - Microstrip-Leitungen ............................................89 5.3.3 Gekoppelte Leiter. ............................................................................................91 5.3.4 Koaxialkabel ....................................................................................................92 5.3.5 Elektronische Einrichtungen - nichtlineare Störsenken ....................................93 5.4 Meßergebnisse........................................................................................ 95 5.5 Qualitative und quantitative Auswertung................................................................101 5.5.1 Resonanzeffekte ........................................................................................
101 5.5.2 Quantitativer Vergleich ...................................................................................101 5.6 Dämpfungseinfluß der Störsenken..........................................................................109 5.7 Konsequenzen für die prüftechnische Praxis............................................................110 Zusammenfassung........................................................................................................113 Anhang A (Analytische Berechnung eines RLC-Parallelkreises)....................................117 Literaturverzeichnis......................................................................................................123
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