Heinke, H. (1994). Charakterisierung von epitaktischen Schichten auf der Basis von II- VI-Halbleitern mit Hilfe der hochauflösenden Röntgendiffraktometrie ([Mikrofiche-Ausg.].).
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Heinke, Heidrun. Charakterisierung Von Epitaktischen Schichten Auf Der Basis Von II- VI-Halbleitern Mit Hilfe Der Hochauflösenden Röntgendiffraktometrie. [Mikrofiche-Ausg.]. 1994.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Heinke, Heidrun. Charakterisierung Von Epitaktischen Schichten Auf Der Basis Von II- VI-Halbleitern Mit Hilfe Der Hochauflösenden Röntgendiffraktometrie. [Mikrofiche-Ausg.]. 1994.
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