Verfügbarkeit: Werkstoffanalytische Verfahren

Werkstoffanalytische Verfahren: eine Auswahl ; mit 39 Tabellen

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Bibliographische Detailangaben
Format:	Buch
Sprache:	German
Veröffentlicht:	Leipzig u.a. Dt. Verl. für Grundstoffindustrie 1995
Ausgabe:	1. Aufl.
Schlagworte:	Werkstoffprüfung Metallographie
Online-Zugang:	Inhaltsverzeichnis
Beschreibung:	Frühere Ausg. u.d.T.: Ausgewählte Untersuchungsverfahren in der Metallkunde
Beschreibung:	556 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:	3342004304

Internformat

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adam_text	INHALTSVERZEICHNIS 1 EINFUEHRUNG . 16 1.1 ASPEKTE DER QUALITAETSSICHERUNG . 16 1.2 STOFFEIGENSCHAFTEN - SYSTEMATISCHE ASPEKTE . 18 1.2.1 MAKROEIGENSCHAFTEN . 18 1.2.2 MIKROEIGENSCHAFTEN . 23 1.2.3 URSACHE-WIRKUNGS-ZUSAMMENHAENGE . 24 1.3 UNTERSUCHUNG VON MATERIALZUSAMMENSETZUNG UND -STRUKTUR . 24 1.4 EINIGE WICHTIGE GROESSEN DER MATERIALANALYTIK . 28 1.4.1 KONZENTRATIONSMASSE . 28 1.4.2 ANALYTISCHE GRENZWERTE . 30 1.4.3 BEWERTUNG VON ANALYSENERGEBNISSEN . 31 LITERATURVERZEICHNIS . 31 2 THERMODYNAMISCHE UNTERSUCHUNGSMETHODEN . 32 2.1 EINLEITUNG . 32 2.2 THERMODYNAMISCHE UNTERSUCHUNGSMETHODEN ZUR BEARBEITUNG MATERIAL KUNDLICHER PROBLEME . 33 2.2.1 CHEMISCHE STOFFWANDLUNGSPROZESSE ZUR MATERIALHERSTELLUNG . 34 2.2.2 PHYSIKALISCH-CHEMISCHE STOFFWANDLUNGSPROZESSE IN DER MATERIALKUNDE . 38 2.2.3 PHYSIKALISCHE STOFFWANDLUNGSPROZESSE IN DER MATERIALKUNDE . 40 2.2.4 PHYSIKALISCHE EIGENSCHAFTEN VON MATERIALIEN . 43 2.3 NUTZUNG THERMODYNAMISCHER DATENBANKEN ZUR BEARBEITUNG MATERIAL KUNDLICHER PROBLEME . 46 2.4 KALORIMETRISCHE UNTERSUCHUNGSMETHODEN . 47 2.4.1 GRUNDLAGEN DER KALORIMETRIE . 49 2.4.2 BETRIEBSARTEN VON KALORIMETERN . 51 2.4.2.1 DYNAMISCHE KALORIMETER . 51 2.4.2.2 STATISCHE KALORIMETER . 52 2.4.3 SPEZIELLE KALORIMETRISCHE UNTERSUCHUNGSMETHODEN . 55 2.4.4 AUSGEWAEHLTE THERMOPHYSIKALISCHE UNTERSUCHUNGSMETHODEN . 58 INHALTSVERZEICHNIS 7 2.5 GLEICHGEWICHTSMETHODEN ZUR BEARBEITUNG MATERIALKUNDLICHER PROBLEME 61 2.5.1 MESSUNG VON ELEKTROMOTORISCHEN KRAEFTEN . 62 2.5.2 PARTIALDRUCKMESSUNGEN UEBER MISCHPHASEN . 63 2.6 ZUSAMMENFASSUNG . 65 LITERATURVERZEICHNIS . 66 3 LICHTMIKROSKOPIE . 68 3.1 MAKRODOKUMENTATION . 69 3.2 UNTERSUCHUNG IN MIKROBEREICHEN . 70 3.2.1 AUFBAU EINES MIKROSKOPES . 71 3.2.2 AUFLICHTMIKROSKOPIE . 78 3.2.3 DURCHLICHTMIKROSKOPIE . 81 3.2.4 SONDERVERFAHREN DER LICHTMIKROSKOPIE . 87 3.2.5 MIKROFOTOGRAFIE UND PROJEKTION . 87 3.3 PROBENPRAEPARATION . 88 3.3.1 PROBENAHME . 88 3.3.2 SCHLIFFHERSTELLUNG . 89 3.3.2.1 EINBETTEN DER PROBE . 89 3.3.2.2 SCHLEIFEN DER PROBE . 91 3.3.2.3 POLIEREN DER PROBE . 91 3.3.3 SONDERVERFAHREN DER PRAEPARATION . 91 3.3.4 AUTOMATISCHE PROBENPRAEPARATION . 93 3.4 ENTWICKLUNG DES GEFUEGES . 93 3.4.1 DARSTELLUNG VON MAKROGEFUEGEN . 94 3.4.2 DARSTELLUNG VON MIKROGEFUEGEN . 95 3.5 MIKROHAERTEMESSUNG . 97 3.5.1 HAERTEPRUEFUNG MIT KLEINEN PRUEFKRAEFTEN . 97 3.5.2 FEHLEREINFLUESSE BEI DER OPTISCHEN AUSMESSUNG . 99 LITERATURVERZEICHNIS . 102 4 QUANTITATIVE GEFUEGEANALYSE . 106 4.1 EINLEITUNG . 106 4.2 MORPHOLOGISCHE TRANSFORMATION . 107 4.3 TEILCHENPARAMETER . 111 4.3.1 PARAMETER EBENER TEILCHENSCHNITTE . 112 4.3.2 PARAMETER RAEUMLICHER TEILCHEN . 116 4.3.3 FORMELN VON STEINER . 119 4.4 FORM VON MESSFELDERN . 121 8 INHALTSVERZEICHNIS 4.5 ALLGEMEINE GEFUEGEKENNGROESSEN . 123 4.5.1 GRUNDBEGRIFFE . 123 4.5.2 GRUNDPARAMETER VON GEFUEGEBESTANDTEILEN . 123 4.6 KOVARIANZ . 137 4.7 SEHNENLAENGENVERTEILUNGEN . 141 424.7.1 MOMENTE DER SEHNENLAENGENVERTEILUNG . 142 4.7.2 STERN . 142 4.7.3 SCHAETZUNG DER SEHNENLAENGENVERTEILUNG . 143 4.8 STEREOLOGISCHE TRANSFORMATIONEN . 144 4.8.1 STEREOLOGIE FUER KUGELFOERMIGE TEILCHEN . 144 4.8.2 WEITERE STEREOLOGISCHE PROBLEME . 149 4.9 BILD VERARBEITUNG . 151 4.9.1 HARDWARE . 151 4.9.2 SOFTWARE . 154 LITERATURVERZEICHNIS . 155 5 ROENTGENFEINSTRUKTURANALYSE. 156 5.1 GRUNDLAGEN . 156 5.1.1 KENNGROESSEN DER ROENTGENSTRAHLUNG . 157 5.1.1.1 MERKMALE DER ROENTGENSTRAHLUNG . 157 5.1.1.2 AUFBAU UND SPEKTRUM EINER ROENTGENROEHRE . 158 5.1.1.3 STRAHLUNGSAUSWAHL UND STRAHLUNGSDETEKTOREN . 158 5.1.2 UEBERBLICK UEBER DIE BEUGUNGSANALYSE . 160 5.1.2.1 BEUGUNG AM KRISTALLGITTER . 160 5.1.2.2 KENNZEICHNUNG VON NETZEBENEN IM KRISTALLGITTER - MILLERSCHE INDIZES 161 5.1.2.3 BRAGGSCHE REFLEXION . 162 5.1.2.4 REZIPROKES GITTER . 164 5.1.2.5 EWALDSCHE KONSTRUKTION . 167 5.1.2.6 BEMERKUNGEN ZU EINKRISTALLUNTERSUCHUNGEN . 168 5.1.2.7 POLKUGELMODELL . 169 5.2 DURCHFUEHRUNG VON VIELKRISTALLUNTERSUCHUNGEN . 171 5.2.1 EINTEILUNG DER INTERFERENZEN . 171 5.2.2 UEBERBLICK UEBER DIE AUFNAHMETECHNIK . 173 5.3 AUSWERTUNG DER ROENTGENINTERFERENZEN . 179 5.3.1 STRUKTURANALYSE . 179 5.3.1.1 WIDERSPIEGELUNG DER STRUKTUR IN DER RADIALEN INTENSITAETSVERTEILUNG . . 179 5.3.1.2 GITTERPARAMETERBESTIMMUNG . 181 5.3.2 GEFUEGEANALYSE . 187 5.3.2.1 QUALITATIVE PHASENANALYSE . 187 5.3.2.2 QUANTITATIVE PHASENANALYSE . 189 INHALTSVERZEICHNIS 9 5.3.2.3 ZUSAMMENHANG ZWISCHEN GEFUEGE UND DER AZIMUTALEN INTENSITAETS VERTEILUNG . 193 5.3.2.4 KORNGROESSEN UND TEXTURBESTIMMUNG . 194 5.3.3 REALSTRUKTURUNTERSUCHUNGEN . 196 5.3.3.1 EINFLUESSE DER REALSTRUKTUR DES VIELKRISTALLS AUF EINE INTERFERENZLINIE . . 196 5.3.3.2 PRAEZISIONSGITTERKONSTANTEN-BESTIMMUNG . 200 5.3.3.3 MESSUNGEN VON SPANNUNGEN 1. ART . 203 5.3.3.4 VERSETZUNGSDICHTEBESTIMMUNG . 207 LITERATURVERZEICHNIS . . 209 6 NEUTRONENBEUGUNG. 211 6.1 GRUNDLAGEN . 211 6.1.1 PHYSIKALISCHE EIGENSCHAFTEN VON NEUTRONEN . 211 6.1.2 NEUTRONENQUELLEN . 212 6.1.3 THERMISCHE NEUTRONEN . 213 6.1.4 WECHSELWIRKUNG VON NEUTRONEN MIT MATERIE . 215 6.1.5 MERKMALE UND ANWENDUNGSGEBIETE DER NEUTRONENBEUGUNG . 217 6.2 EXPERIMENTELLE METHODEN DER NEUTRONENBEUGUNG . 220 6.2.1 NEUTRONENDETEKTOREN . 220 6.2.2 GERAETESYSTEME DER NEUTRONENDIFFRAKTOMETRIE . 222 6.3 FEINSTRUKTURANALYSE MIT NEUTRONEN . 226 6.3.1 BESONDERHEITEN DER ELASTISCHEN NEUTRONENSTREUUNG . 226 6.3.2 NEUTRONENBEUGUNG AN CHEMISCH GEORDNETEN STRUKTUREN . 228 6.3.3 NEUTRONENBEUGUNG AN HOMOGENEN LEGIERUNGEN . 230 6.3.4 NEUTRONENBEUGUNG AN MAGNETISCHEN STRUKTUREN . 232 6.4 GEFUEGEANALYSE MIT NEUTRONEN . 233 6.4.1 AUFGABENSTELLUNGEN . 233 6.4.2 PHASENANALYSE . 234 6.4.3 NEUTRONOGRAPHISCHE KORNGROESSENBSTIMMUNG . 235 6.4.4 NEUTRONOGRAPHISCHE TEXTURANALYSE . 237 6.4.5 NEUTRONOGRAPHISCHE EIGENSPANNUNGSMESSUNGEN . 240 6.5 NEUTRONOGRAPHISCHE SUBGEFUEGEANALYSE AN VIELKRISTALLEN . 242 LITERATURVERZEICHNIS . 244 7 DURCHSTRAHLUNGS-ELEKTRONENMIKROSKOPIE . 248 7.1 EINFUEHRUNG . 249 7.2 PROBENPRAEPARATION . 250 7.2.1 ALLGEMEINES . 250 7.2.2 PRAEPARATIONSVERFAHREN . 251 7.2.2.1 REPLIKATECHNIKEN . 251 7.2.2.2 DUENNUNGSVERFAHREN AN KOMPAKTEM MATERIAL ZUR ELEKTRONENTRANSPARENZ 252 7.2.2.3 ZIELPRAEPARATION . 254 10 INHALTSVERZEICHNIS 7.3 GERAETETECHNIK . 257 7.3.1 ALLGEMEINES . 257 7.3.2 MIKROSKOPAUSSTATTUNG . 257 7.3.3.1 DURCHSTRAHLUNGS-ELEKTRONENMIKROSKOP . 257 7.3.3.2 RASTER-DURCHSTRAHLUNGS-ELEKTRONENMIKROSKOP . 260 7.3.3.3 ZUSATZEINRICHTUNGEN ZUR PROBENMANIPULIERUNG IM ELEKTRONENMIKROSKOP 260 7.4 ELEKTRONENMIKROSKOPISCHES BILD . 262 7.4.1 GRUNDLAGEN . 262 7.4.2 ABBILDUNGSTECHNIKEN IM BEUGUNGSKONTRAST . 265 7.4.3 BEUGUNGSTECHNIKEN . 270 7.4.4 HOECHSTAUFLOESENDE ELEKTRONENMIKROSKOPIE . 272 7.4.5 HOECHSTSPANNUNGS-ELEKTRONENMIKROSKOPIE . 276 7.4.6 ANALYTISCHE DURCHSTRAHLUNGS-ELEKTRONENMIKROSKOPIE . 277 LITERATURVERZEICHNIS . 279 8 RASTERELEKTRONENMIKROSKOPIE UND ELEKTRONENSTRAHLMIKROANALYSE . 281 8.1 EINLEITUNG . 282 8.2 WECHSELWIRKUNG VON ELEKTRONENSTRAHLEN MIT MATERIE . 283 8.2.1 ERZEUGUNG UND ABSORPTION VON ROENTGENSTRAHLUNG . 284 8.2.1.1 ROENTGENBREMSSTRAHLUNG . 284 8.2.1.2 CHARAKTERISTISCHE STRAHLUNG . 285 8.2.1.3 ABSORPTION VON ROENTGENSTRAHLUNG . 287 8.2.2 ELEKTRONENEMISSION UND ABSORPTION . 288 8.3 PRINZIPIELLER AUFBAU VON RASTERELEKTRONENMIKROSKOP UND ELEKTRONEN STRAHLMIKROANALYSATOR . 290 8.4 RASTERPRINZIP UND BILDENTSTEHUNG . 291 8.5 RASTERELEKTRONENMIKROSKOPIE . 292 8.5.1 PROBENPRAEPARATION . 292 8.5.2 BILDENTSTEHUNG . 292 8.5.2.1 SEKUNDAERELEKTRONENBILD . 292 8.5.2.2 RUECKSTREUELEKTRONENBILD . 294 8.5.2.3 PROBENSTROMBILD . 296 8.5.3 BILDQUALITAET UND AUFLOESUNG . 296 8.5.4 ROENTGENMIKROBEREICHSANALYSE (RMA) IM REM . 298 8.5.5 BILDANALYSE . 298 8.5.6 ANWENDUNGEN . 299 8.6 ROENTGENMIKROBEREICHSANALYSE . 300 8.6.1 PROBENPRAEPARATION . 301 8.6.2 SPEKTROMETRIE DER ROENTGENSTRAHLUNG . 302 8.6.2.1 WELLENLAENGENDISPERSIVES SPEKTROMETER . 302 8.6.2.2 ENERGIEDISPERSIVES SPEKTROMETER . 305 8.6.3 QUALITATIVE ANALYSE . 306 INHALTSVERZEICHNIS 11 8.6.4 ELEMENTVERTEILUNGSANALYSE . 306 8.6.4.1 LINIENANALYSE . 307 8.6.4.2 FLAECHENANALYSE . 307 8.6.5 QUANTITATIVE ANALYSE . 308 8.6.5.1 PRINZIPIEN DER QUANTITATIVEN ROENTGENMIKROBEREICHSANALYSE . 308 8.6.5.2 GENAUIGKEIT UND RICHTIGKEIT . 309 8.6.5.3 NACHWEISGRENZEN . 310 8.6.6 ANALYSE DUENNER SCHICHTEN . 311 8.6.6.1 GRUNDLAGEN . 311 8.6.6.2 ANWENDUNGEN . 312 LITERATURVERZEICHNIS . 314 9 SEKUNDAERIONEN-MASSENSPEKTROMETRIE . 315 9.1 GRUNDLAGEN . 318 9.1.1 IMPLANTATION, SPUTTERING, YYALTERED LAYER " , SPUTTERGLEICHGEWICHT . 318 9.1.2 IONISATION, MATRIXEFFEKT . 319 9.1.3 WEITERE EFFEKTE . 321 9.1.3.1 AUFRAUHUNG UNTER LONENBESCHUSS . 321 9.1.3.2 ERHOEHTE DIFFUSION UNTER LONENBESCHUSS (RED) . 321 9.1.4 QUANTIFIZIERUNG OHNE STANDARDS . 322 9.1.5 QUANTIFIZIERUNG MIT STANDARDS . 323 9.2 GERAETETYPEN . 323 9.2.1 MAGNETMASSENSPEKTROMETER . 324 9.2.2 QUADRUPOLMASSENSPEKTROMETER . 326 9.2.3 FLUGZEITMASSENSPEKTROMETER . 327 9.3 GRENZEN DER SIMS-ANALYTIK . 328 9.4 ANWENDUNGSBEISPIELE . 330 9.4.1 TIEFENPROFILE AN LATERAL HOMOGENEN PROBEN . 331 9.4.2 MESSUNGEN AN LATERAL INHOMOGENEN PROBEN . 336 9.4.3 SIMS-ANALYSEN MIT FLUGZEITMASSENSPEKTROMETERN . 341 9.5 NACHIONISATIONSMETHODEN . 344 LITERATURVERZEICHNIS . 345 10 PHOTOELEKTRONENSPEKTROSKOPIE. 347 10.1 PHYSIKALISCHE GRUNDLAGEN . 348 10.1.1 PHOTOELEKTRONENSPEKTROSKOPIE AN FESTKOERPEROBERFLAECHEN . 349 10.1.1.1 INFORMATIONSTIEFE . 349 10.1.1.2 LATERALE AUFLOESUNG . 350 10.1.2 SPEKTRALE INFORMATION AUS PHOTOELEKTRONENSPEKTREN . 351 10.1.2.1 CORE-NIVEAUS . 352 10.1.2.2 VALENZ-NIVEAUS . 353 10.1.2.3 AUGER-NIVEAU . 353 10.1.2.4 CHEMISCHE VERSCHIEBUNG . 354 10.1.2.5 VALENZBAND . 357 12 INHALTSVERZEICHNIS 10.1.2.6 SATELLITEN . 358 10.1.2.7 MULTIPLETT-AUFSPALTUNG . 358 10.1.2.8 PLASMONEN . 358 10.2 EXPERIMENTELLE TECHNIK . 359 10.2.1 VAKUUMSYSTEM . 359 10.2.2 PHOTONENQUELLEN . 361 10.2.2.1 KONVENTIONELLE QUELLEN . 361 10.2.2.2 SYNCHROTRONSTRAHLUNG . 362 10.2.2.3 VUV-LASERLICHT . 363 10.2.2.4 LASER-PLASMA-QUELLE FUER WEICHE ROENTGENSTRAHLUNG . 364 10.2.3 ANALYSATOREN UND DETEKTOREN . 365 10.2.3.1 ZYLINDERSPIEGELANALYSATOR (CMA) . 365 10.2.3.2 HEMISPHAERISCHER ANALYSATOR (CHA) . 366 10.2.3.3 FLUGZEIT-ANALYSATOR (TOF) . 366 10.2.3.4 DETEKTOREN . 368 10.2.4 ZUSAETZLICHE KOMPONENTEN . 368 10.2.5 STEUERUNG UND DATENERFASSUNG . 369 10.3 MESSUNG VON PHOTOELEKTRONEN-SPEKTREN . 370 10.3.1 PROBENPRAEPARATION . 370 10.3.2 SPEKTRENAUFNAHME . 371 10.3.2.1 STANDARDMESSUNGEN . 371 10.3.2.2 WINKELABHAENGIGE MESSUNGEN . 372 10.3.2.3 ORTSAUFGELOESTE UND ABBILDENDE MESSUNGEN . 373 10.3.2.4 ZEITABHAENGIGE MESSUNGEN . 375 10.3.2.5 TIEFENPROFILANALYSE . 375 10.4 AUSWERTUNG DER SPEKTREN . 376 10.4.1 QUALITATIVE AUSSAGEN . 376 10.4.2 QUANTITATIVE ANALYSE . 376 10.4.3 TIEFENPROFILANALYSE . 378 10.5 XPS IM ROUTINEEINSATZ . 379 LITERATURVERZEICHNIS . 380 11 AUGER-ELEKTRONENSPEKTROSKOPIE . 382 11.1 PHYSIKALISCHE GRUNDLAGEN . 383 11.1.1 AUGER-REKOMBINATION IM ATOM . 383 11.1.2 AUGERELEKTRONENEMISSION VON FESTKOERPEROBERFLAECHEN . 385 11.2 EXPERIMENTELLE TECHNIK . 388 11.3 QUANTITATIVE ANALYSE . 392 11.3.1 ANALYSE VON OBERFLAECHEN . 392 11.3.2 TIEFENPROFILANALYSE . 396 11.3.3 GENAUIGKEIT UND NACHWEISGRENZE . 398 INHALTSVERZEICHNIS 13 11.4 ANWENDUNGEN . 400 11.4.1 MIKROELEKTRONIK . 400 11.4.2 METALLKUNDE . 404 LITERATURVERZEICHNIS . 407 12 GLIMMENTLADUNGSSPEKTROSKOPIE . 409 12.1 GDOS-MESSEINRICHTUNG . 409 12.2 GRUNDLAGEN DER OBERFLAECHEN UND TIEFENPROFILANALYSE . 415 12.3 BESCHREIBUNG DES MESSVERFAHRENS . 418 12.3.1 ANALYSE VON STICKSTOFF IN STAHL . 420 12.3.2 ANALYSE VON WASSERSTOFF IN FESTKOERPERN . 421 12.3.3 SPEKTROSKOPISCHE TIEFENPROFILANALYSE (STPA) . 422 12.4 VERGLEICH DER GDOS ANALYSE ZU ANDEREN VERFAHREN . 426 LITERATURVERZEICHNIS . 428 13 AKUSTISCHE MIKROSKOPIE. 430 13.1 EINLEITUNG . 430 13.2 ENTWICKLUNG DER AKUSTISCHEN MIKROSKOPIE . 432 13.2.1 KONVENTIONELLE ULTRASCHALL-PRUEFVERFAHREN . 432 13.2.2 AKUSTISCHE RASTERMIKROSKOPIE . 433 13.3 GRUNDLAGEN ZUM ULTRASCHALL . 434 13.3.1 SCHALLWELLEN IN FESTKOERPERN . 435 13.3.2 SCHALLWELLEN IN FLUESSIGKEITEN . 436 13.3.3 SCHALLWELLEN AN GRENZFLAECHEN . 437 13.3.3.1 REFLEXION UND TRANSMISSION VON SCHALLWELLEN . 437 13.3.3.2 AKUSTISCHE OBERFLAECHENWELLEN . 438 13.4 GERAETETECHNIK UND FUNKTIONSWEISE EINES AKUSTISCHEN RASTERMIKROSKOPS 439 13.4.1 DAS ABBILDUNGSSYSTEM DES ARRM . 440 13.4.2 DAS KOPPLUNGSMEDIUM . 441 13.4.3 DIE AKUSTISCHE ABBILDUNG . 442 13.4.4 DIE TIEFENABBILDUNG . 442 13.4.5 KONTRASTENTSTEHUNG UND F(Z)-KURVEN . 444 13.4.6 BILDNACHBEARBEITUNG . 449 13.5 QUANTITATIVE ANALYSE . 449 13.5.1 SCHALLGESCHWINDIGKEITSMESSUNG . 450 13.5.2 BESTIMMUNG DES ELASTIZITAETSMODULS . 451 13.5.3 QUANTITATIVE ANALYSE AN RAND UND OBERFLAECHENSCHICHTEN . 451 13.5.4 MECHANISCHE SPANNUNGEN . 453 13.6 AUSBLICK . 454 LITERATURVERZEICHNIS . 455 14 INHALTSVERZEICHNIS 14 RASTERTUNNELMIKROSKOPIE . 457 14.1 EINLEITUNG . 457 14.2 PHYSIKALISCHE GRUNDLAGEN . 459 14.2.1 NAHFELD WECHSELWIRKUNGEN. 459 14.2.2 DER TUNNELEFFEKT . 461 14.2.3 ZWISCHENATOMARE KRAEFTE . 462 14.3 INSTRUMENTIERUNG MECHANISCHER RASTERSONDENVERFAHREN . 464 14.3.1 MECHANISCHE STEUEREINHEIT . 464 14.3.2 ELEKTRONIK . 465 14.3.3 RECHNERSTEUERUNG - BILDAUFBAU . 466 14.4 PROBENPRAEPARATION . 467 14.4.1 SONDENHERSTELLUNG . 467 14.4.2 PROBENVORBEREITUNG FUER MESSUNGEN AN LUFT . 470 14.4.3 PROBENBEHANDLUNG UNTER VAKUUM . 471 14.4.4 PROBENMODIFIKATION IN SITU . 473 14.5 BETRIEBSARTEN - MESSSTRATEGIEN - INFORMATIONSGEWINN . 474 14.5.1 ALLGEMEINES - MESSABLAUF . 474 14.5.2 OBERFLAECHENTOPOGRAPHIE . 475 14.5.3 CHEMISCHE INFORMATION . 477 14.5.4 ELEKTRONISCHE CHARAKTERISIERUNG . 477 14.5.5 MECHANISCHE OBERFLAECHENEIGENSCHAFTEN . 478 14.5.6 EINSCHRAENKUNGEN UND FEHLDEUTUNGEN . 479 14.6 ERFOLGREICHE PROBLEMSTELLUNGEN . 481 14.6.1 OBERFLAECHENBESCHICHTUNG UND -STRUKTURIERUNG . 481 14.6.2 HALBLEITERTECHNIK . 481 14.6.3 POLYMERE . 483 14.6.4 METALLE . 486 14.6.5 KERAMIKEN . 488 14.6.6 BRUCHFORSCHUNG . 490 14.7 PERSPEKTIVEN DER RASTERSONDENTECHNIK . 490 14.7.1 AKTUELLE EINZELENTWICKLUNGEN . 490 14.7.2 GERAETE UND METHODENKOMBINATIONEN . 491 14.7.3 KOMMERZIELLE GERAETE . 491 LITERATURVERZEICHNIS . 492 15 MOESSBAUER-SPEKTROMETRIE . 494 15.1 GRUNDLAGEN . 495 15.1.1 MOESSBAUER-EFFEKT . 495 15.1.2 CHARAKTERISTISCHE GROESSEN . 498 15.1.2.1 ISOMERIEVERSCHIEBUNG . 499 15.1.2.2 QUADRUPOLAUFSPALTUNG . 500 INHALTSVERZEICHNIS 15 15.1.2.3 MAGNETISCHE AUFSPALTUNG . 501 15.1.2.4 LINIENBREITE, LINIENINTENSITAET . 502 15.2 EXPERIMENTELLE ASPEKTE . 503 15.2.1 MESSAPPARATUR . 503 15.2.2 DETEKTOREN . 504 15.2.3 MESSGEOMETRIE . 505 15.2.3.1 TRANSMISSIONSGEOMETRIE . 505 15.2.3.2 KONVERSIONSELEKTRONEN-MESSUNG CEMS . 506 15.2.4 MOESSBAUER-QUELLEN. 507 15.2.5 AUSWERTEVERFAHREN . 508 15.2.6 ANFORDERUNGEN AN DAS PROBENMATERIAL UND NACHWEISGRENZEN . 508 15.3 ANWENDUNGSMOEGLICHKEITEN . 509 15.3.1 PHASENBILDUNG . 509 15.3.1.1 PHASENBILDUNG IN BARIUMFERRITEN . 509 15.3.1.2 KARBIDBILDUNG BEI DER KATALYSE . 510 15.3.2 AUSSCHEIDUNGEN UND DIFFUSIONSPROZESSE . 512 15.3.2.1 KARBIDAUSSCHEIDUNGEN NACH HOCHTEMPERATUR-THERMOMECHANISCHER BEHANDLUNG VON STAHL . 512 15.3.2.2 NITRIDAUSSCHEIDUNG NACH TEMPERN . 513 15.3.3 OBERFLAECHENUNTERSUCHUNGEN . 516 15.3.3.1 IONENIMPLANTATION . 516 15.3.3.2 TEXTUR, DOMAENEN . 517 15.3.4 GLAESER, AMORPHE SUBSTANZEN . 519 15.3.4.1 UNTERSUCHUNGEN AN SCHWEISSERSCHUTZGLAESERN . 519 15.3.4.2 T 80 M-TYP-VERBINDUNGEN . 520 15.3.5 PHASENANALYSE . 521 LITERATURVERZEICHNIS . 523 16 POSITRONENANNIBILATIONSSPEKTROSKOPIE (PAS) . 524 16.1 EINLEITUNG . 524 16.2 GRUNDLAGEN DER PAS . 525 16.3 POSITRONENQUELLEN . 527 16.4 KONVENTIONELLE METHODEN DER PAS . 530 16.4.1 2Y-WINKELKORRELATIONSMESSUNGEN . 530 16.4.2 POSITRONENLEBENSDAUERMESSUNGEN . 533 16.4.3 Y-LINIENFORMMESSUNGEN . 536 16.5 ANWENDUNGEN . 538 16.6 AUSBLICK . 546 LITERATURVERZEICHNIS . 548 VERWENDETE 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