Charakterisierung der Mikrostruktur amorpher PVD-Schichten am Beispiel Siliciumnitrid:
Gespeichert in:
1. Verfasser: | |
---|---|
Format: | Buch |
Sprache: | German |
Veröffentlicht: |
1992
|
Schlagworte: | |
Online-Zugang: | Inhaltsverzeichnis |
Beschreibung: | Chemnitz, Zwickau, Techn. Univ., Diss., 1992 |
Beschreibung: | 103 S. Ill., graph. Darst. |
Internformat
MARC
LEADER | 00000nam a2200000 c 4500 | ||
---|---|---|---|
001 | BV009982640 | ||
003 | DE-604 | ||
005 | 20020308 | ||
007 | t | ||
008 | 950103s1992 gw ad|| m||| 00||| ger d | ||
016 | 7 | |a 942990501 |2 DE-101 | |
035 | |a (OCoLC)75526979 | ||
035 | |a (DE-599)BVBBV009982640 | ||
040 | |a DE-604 |b ger |e rakddb | ||
041 | 0 | |a ger | |
044 | |a gw |c DE | ||
049 | |a DE-12 |a DE-29T |a DE-355 |a DE-91 |a DE-11 |a DE-83 | ||
084 | |a PHY 658d |2 stub | ||
100 | 1 | |a Zösch, Antje |e Verfasser |4 aut | |
245 | 1 | 0 | |a Charakterisierung der Mikrostruktur amorpher PVD-Schichten am Beispiel Siliciumnitrid |c vorgelegt von Antje Zösch |
264 | 1 | |c 1992 | |
300 | |a 103 S. |b Ill., graph. Darst. | ||
336 | |b txt |2 rdacontent | ||
337 | |b n |2 rdamedia | ||
338 | |b nc |2 rdacarrier | ||
500 | |a Chemnitz, Zwickau, Techn. Univ., Diss., 1992 | ||
650 | 0 | 7 | |a Dünne Schicht |0 (DE-588)4136925-7 |2 gnd |9 rswk-swf |
650 | 0 | 7 | |a Siliciumnitrid |0 (DE-588)4127841-0 |2 gnd |9 rswk-swf |
650 | 0 | 7 | |a PVD-Verfahren |0 (DE-588)4115673-0 |2 gnd |9 rswk-swf |
655 | 7 | |0 (DE-588)4113937-9 |a Hochschulschrift |2 gnd-content | |
689 | 0 | 0 | |a Siliciumnitrid |0 (DE-588)4127841-0 |D s |
689 | 0 | 1 | |a Dünne Schicht |0 (DE-588)4136925-7 |D s |
689 | 0 | 2 | |a PVD-Verfahren |0 (DE-588)4115673-0 |D s |
689 | 0 | |5 DE-604 | |
856 | 4 | 2 | |m DNB Datenaustausch |q application/pdf |u http://bvbr.bib-bvb.de:8991/F?func=service&doc_library=BVB01&local_base=BVB01&doc_number=006615392&sequence=000001&line_number=0001&func_code=DB_RECORDS&service_type=MEDIA |3 Inhaltsverzeichnis |
943 | 1 | |a oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-006615392 |
Datensatz im Suchindex
_version_ | 1812454189344751616 |
---|---|
adam_text |
INHALTSVERZEICHNIS
1. EINLEITUNG .1
2. STRUKTUR UND WACHSTUM AMORPHER PVD - SCHICHTEN .3
2.1. DIE HERAUSBILDUNG DER MIKROSTRUKTUR BEIM DUENNSCHICHTWACHSTUM.3
2.1.1. QUALITATIVE BETRACHTUNG DER MIKROSTRUKTUR -
STRUKTURZONENMODELLE.3
2.1.2. GRUNDLAGEN FUER EINE NEUE, QUANTITATIVE BETRACHTUNG DER
MIKROSTRUKTUR -
FRAKTALE GEOMETRIE.7
2.1.3. HILLOCKWACHSTUM.13
2.2 FRUEHE WACHSTUMSSTADIEN.15
2.2.1 DAS DUENNSCHICHTWACHSTUM IN DEN ERSTEN ATOMLAGEN.15
2.2.2 COMPUTERSIMULATION DES DUENNSCHICHTWACHSTUMS UNTER VERWENDUNG
DES BALLISTISCHEN AGGREGATIONSMODELLS.19
2.2.3 ANWENDUNG DES VORGESTELLTEN SIMULATIONSPROGRAMMS AUF GESPUTTERTE
ZWEI-KOMPONENTEN-SYSTEME AM BEISPIEL SILICIUMNITRID.23
2.2.4 AUSGEWAEHLTE SIMULATIONSERGEBNISSE.26
3. EXPERIMENTELLE VORAUSSETZUNGEN.41
3.1 ABSCHEIDUNG VON SILICIUMNITRID.41
3.1.1 REAKTIVES DC - HOCHRATESPUTTERN.41
3.1.2 GERAETETECHNIK.42
3.2. ELEKTRONENMIKROSKOPISCHE UNTERSUCHUNGEN.44
3.2.1 GERAETETECHNISCHE VORAUSSETZUNGEN.44
3.2.2 PRAEPARATIONSVERFAHREN.45
BIBLIOGRAFISCHE INFORMATIONEN
HTTP://D-NB.INFO/942990501
4. QUANTIFIZIERUNG DER MIKROSTRUKTUR.49
4.1 EINFUEHRUNG DES MITTLEREN SAEULENDURCHMESSERS ALS CHARAKTERISTISCHE
GROESSE.49
4.2 BESTIMMUNG DES MITTLEREN SAEULENDURCHMESSERS - FEHLERBETRACHTUNG.51
4.3 BESTIMMUNG VON ANZAHL UND GROESSENVERTEILUNG DER HILLOCKS.53
5. CHARAKTERISIERUNG DER MIKROSTRUKTUR MITTELS FRAKTALER GEOMETRIE.54
5.1. EVOLUTIONSSTRUKTUR.54
5.2. SKALENINVARIANZ.
58
6. ENTWICKLUNG DER MIKROSTRUKTUR UNTER VERSCHIEDENEN
HERSTELLUNGSBEDINGUNGEN.
88
6.1. HERAUSBILDUNG DER MIKROSTRUKTUR BEI VERAENDERTEN TOTALDRUECKEN.66
6.1.1. ABSCHEIDUNG VON SILICIUMNITRIDSCHICHTEN BEI VERSCHIEDENEN
TOTALDRUECKEN.88
6.1.2. AENDERUNG DES TOTALDRUCKES WAEHREND DER BESCHICHTUNG.70
6.2. EINFLUSS DER TEMPERATUR.72
6.2.1. SUBSTRATTEMPERATUR.
72
6.2.2. NACHBEHANDLUNG DER SCHICHTEN DURCH TEMPERN.74
6.3. VERFAHRENSBEDINGTE EFFEKTE UND HILLOCKWACHSTUM.76
6.4. SCHICHTSTRUKTUR UND MECHANISCHE EIGENSCHAFTEN.82
6.4.1 EINFLUSS DER ABSCHEIDEBEDINGUNGEN AUF DIE MECHANISCHEN SPANNUNGEN
DER SIN
X-SCHICHTEN.82
6.4.2. VERHALTEN DER SINX-SCHICHTEN BEI KAVITATIVER BEANSPRUCHUNG.84
7. ZUSAMMENFASSUNG UND AUSBLICK.89
8
.
LITERATUR
93
ANHANG.98
THESEN.102 |
any_adam_object | 1 |
author | Zösch, Antje |
author_facet | Zösch, Antje |
author_role | aut |
author_sort | Zösch, Antje |
author_variant | a z az |
building | Verbundindex |
bvnumber | BV009982640 |
classification_tum | PHY 658d |
ctrlnum | (OCoLC)75526979 (DE-599)BVBBV009982640 |
discipline | Physik |
format | Book |
fullrecord | <?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?><collection xmlns="http://www.loc.gov/MARC21/slim"><record><leader>00000nam a2200000 c 4500</leader><controlfield tag="001">BV009982640</controlfield><controlfield tag="003">DE-604</controlfield><controlfield tag="005">20020308</controlfield><controlfield tag="007">t</controlfield><controlfield tag="008">950103s1992 gw ad|| m||| 00||| ger d</controlfield><datafield tag="016" ind1="7" ind2=" "><subfield code="a">942990501</subfield><subfield code="2">DE-101</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(OCoLC)75526979</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(DE-599)BVBBV009982640</subfield></datafield><datafield tag="040" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-604</subfield><subfield code="b">ger</subfield><subfield code="e">rakddb</subfield></datafield><datafield tag="041" ind1="0" ind2=" "><subfield code="a">ger</subfield></datafield><datafield tag="044" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">gw</subfield><subfield code="c">DE</subfield></datafield><datafield tag="049" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-12</subfield><subfield code="a">DE-29T</subfield><subfield code="a">DE-355</subfield><subfield code="a">DE-91</subfield><subfield code="a">DE-11</subfield><subfield code="a">DE-83</subfield></datafield><datafield tag="084" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">PHY 658d</subfield><subfield code="2">stub</subfield></datafield><datafield tag="100" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Zösch, Antje</subfield><subfield code="e">Verfasser</subfield><subfield code="4">aut</subfield></datafield><datafield tag="245" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">Charakterisierung der Mikrostruktur amorpher PVD-Schichten am Beispiel Siliciumnitrid</subfield><subfield code="c">vorgelegt von Antje Zösch</subfield></datafield><datafield tag="264" ind1=" " ind2="1"><subfield code="c">1992</subfield></datafield><datafield tag="300" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">103 S.</subfield><subfield code="b">Ill., graph. Darst.</subfield></datafield><datafield tag="336" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">txt</subfield><subfield code="2">rdacontent</subfield></datafield><datafield tag="337" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">n</subfield><subfield code="2">rdamedia</subfield></datafield><datafield tag="338" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">nc</subfield><subfield code="2">rdacarrier</subfield></datafield><datafield tag="500" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">Chemnitz, Zwickau, Techn. Univ., Diss., 1992</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Dünne Schicht</subfield><subfield code="0">(DE-588)4136925-7</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Siliciumnitrid</subfield><subfield code="0">(DE-588)4127841-0</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">PVD-Verfahren</subfield><subfield code="0">(DE-588)4115673-0</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="655" ind1=" " ind2="7"><subfield code="0">(DE-588)4113937-9</subfield><subfield code="a">Hochschulschrift</subfield><subfield code="2">gnd-content</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="0"><subfield code="a">Siliciumnitrid</subfield><subfield code="0">(DE-588)4127841-0</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="1"><subfield code="a">Dünne Schicht</subfield><subfield code="0">(DE-588)4136925-7</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="2"><subfield code="a">PVD-Verfahren</subfield><subfield code="0">(DE-588)4115673-0</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2=" "><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="856" ind1="4" ind2="2"><subfield code="m">DNB Datenaustausch</subfield><subfield code="q">application/pdf</subfield><subfield code="u">http://bvbr.bib-bvb.de:8991/F?func=service&doc_library=BVB01&local_base=BVB01&doc_number=006615392&sequence=000001&line_number=0001&func_code=DB_RECORDS&service_type=MEDIA</subfield><subfield code="3">Inhaltsverzeichnis</subfield></datafield><datafield tag="943" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-006615392</subfield></datafield></record></collection> |
genre | (DE-588)4113937-9 Hochschulschrift gnd-content |
genre_facet | Hochschulschrift |
id | DE-604.BV009982640 |
illustrated | Illustrated |
indexdate | 2024-10-09T16:23:29Z |
institution | BVB |
language | German |
oai_aleph_id | oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-006615392 |
oclc_num | 75526979 |
open_access_boolean | |
owner | DE-12 DE-29T DE-355 DE-BY-UBR DE-91 DE-BY-TUM DE-11 DE-83 |
owner_facet | DE-12 DE-29T DE-355 DE-BY-UBR DE-91 DE-BY-TUM DE-11 DE-83 |
physical | 103 S. Ill., graph. Darst. |
publishDate | 1992 |
publishDateSearch | 1992 |
publishDateSort | 1992 |
record_format | marc |
spelling | Zösch, Antje Verfasser aut Charakterisierung der Mikrostruktur amorpher PVD-Schichten am Beispiel Siliciumnitrid vorgelegt von Antje Zösch 1992 103 S. Ill., graph. Darst. txt rdacontent n rdamedia nc rdacarrier Chemnitz, Zwickau, Techn. Univ., Diss., 1992 Dünne Schicht (DE-588)4136925-7 gnd rswk-swf Siliciumnitrid (DE-588)4127841-0 gnd rswk-swf PVD-Verfahren (DE-588)4115673-0 gnd rswk-swf (DE-588)4113937-9 Hochschulschrift gnd-content Siliciumnitrid (DE-588)4127841-0 s Dünne Schicht (DE-588)4136925-7 s PVD-Verfahren (DE-588)4115673-0 s DE-604 DNB Datenaustausch application/pdf http://bvbr.bib-bvb.de:8991/F?func=service&doc_library=BVB01&local_base=BVB01&doc_number=006615392&sequence=000001&line_number=0001&func_code=DB_RECORDS&service_type=MEDIA Inhaltsverzeichnis |
spellingShingle | Zösch, Antje Charakterisierung der Mikrostruktur amorpher PVD-Schichten am Beispiel Siliciumnitrid Dünne Schicht (DE-588)4136925-7 gnd Siliciumnitrid (DE-588)4127841-0 gnd PVD-Verfahren (DE-588)4115673-0 gnd |
subject_GND | (DE-588)4136925-7 (DE-588)4127841-0 (DE-588)4115673-0 (DE-588)4113937-9 |
title | Charakterisierung der Mikrostruktur amorpher PVD-Schichten am Beispiel Siliciumnitrid |
title_auth | Charakterisierung der Mikrostruktur amorpher PVD-Schichten am Beispiel Siliciumnitrid |
title_exact_search | Charakterisierung der Mikrostruktur amorpher PVD-Schichten am Beispiel Siliciumnitrid |
title_full | Charakterisierung der Mikrostruktur amorpher PVD-Schichten am Beispiel Siliciumnitrid vorgelegt von Antje Zösch |
title_fullStr | Charakterisierung der Mikrostruktur amorpher PVD-Schichten am Beispiel Siliciumnitrid vorgelegt von Antje Zösch |
title_full_unstemmed | Charakterisierung der Mikrostruktur amorpher PVD-Schichten am Beispiel Siliciumnitrid vorgelegt von Antje Zösch |
title_short | Charakterisierung der Mikrostruktur amorpher PVD-Schichten am Beispiel Siliciumnitrid |
title_sort | charakterisierung der mikrostruktur amorpher pvd schichten am beispiel siliciumnitrid |
topic | Dünne Schicht (DE-588)4136925-7 gnd Siliciumnitrid (DE-588)4127841-0 gnd PVD-Verfahren (DE-588)4115673-0 gnd |
topic_facet | Dünne Schicht Siliciumnitrid PVD-Verfahren Hochschulschrift |
url | http://bvbr.bib-bvb.de:8991/F?func=service&doc_library=BVB01&local_base=BVB01&doc_number=006615392&sequence=000001&line_number=0001&func_code=DB_RECORDS&service_type=MEDIA |
work_keys_str_mv | AT zoschantje charakterisierungdermikrostrukturamorpherpvdschichtenambeispielsiliciumnitrid |