Entwicklung eines prozessrechnergestützten Raster-Tunnelmikroskops und Morphologie-Bestimmung des Halbleiters Siliziumkarbid:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Heuell, Peter (VerfasserIn)
Format: Abschlussarbeit Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: 1994
Schlagworte:
Beschreibung:112 S. Ill., graph. Darst.

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