Proceedings: October 27 - 29, 1993, Venice, Italy
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: International Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems Venedig (VerfasserIn)
Format: Tagungsbericht Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Los Alamitos, Calif. u.a. IEEE Computer Soc. Pr. 1993
Schlagworte:
Beschreibung:XIII, 336 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:0818635029

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