Neue Methoden zur quantitativen Auswertung von energiegefilterten konvergenten Elektronenbeugungsbildern:
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1994
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INHALTSVERZEICHNIS
1
EINFUEHRUNG
5
2
GRUNDLAGEN
DER
KONVERGENTEN
ELEKTRONENBEUGUNG
12
2.1
ELEKTRONENBEUGUNG
.
12
2.1.1
DAS
REZIPROKE
GITTER
.
12
2.1.2
KONSTRUKTION
DER
LAUE-ZONEN
.
13
2.1.3
BRAGG-GLEICHUNG
UND
EWALD-KONSTRUKTION
.
14
2.2
KONVERGENTE
ELEKTRONENBEUGUNG
.
18
2.2.1
GEOMETRIE
EINES
KONVERGENTEN
BEUGUNGSBILDS
.
18
2.2.2
DYNAMISCHE
THEORIE
DER
ELEKTRONENBEUGUNG
.
21
2.2.3
ZUSAMMENHANG
ZWISCHEN
KRISTALLPOTENTIAL
UND
STRUKTUR
FAKTOREN
.
24
2.2.4
DER
ZWEI-STRAHL-FALL
.
24
2.2.5
HOLZ-LINIEN
.
26
2.2.6
DYNAMISCHE
VERSCHIEBUNG
DER
HOLZ-LINIEN
.
.
28
2.2.7
HOLZ-LINIEN-VERSCHIEBUNG
AUFGRUND
INELASTISCHER
STREU
PROZESSE
.
31
2.2.8
DIE
AUS
EINEM
CBED-DIAGRAMM
ZU
GEWINNENDEN
PHYSIKA
LISCHEN
INFORMATIONEN
.
31
2.2.9
VORTEILE
DER
CBED
GEGENUEBER
DER
SAD-BEUGUNG
.
33
2.3
BERECHNUNG
DER
LADUNGSDICHTEVERTEILUNG
.
34
2.3.1
DIE
STREUFAKTOREN
UND
DER
DEBYE-WALLER-FAKTOR
.
35
2
INHALTSVERZEICHNIS
3
GERAETE
UND
UNTERSUCHUNGSMETHODEN
38
3.1
DAS
ENERGIEFILTERNDE
ELEKTRONENMIKROSKOP
.
38
3.2
DAS
OMEGA-FILTER
.
42
3.3
PROBENPRAEPERATION
.
45
3.3.1
SILIZIUM-PROBEN
.
45
3.3.2
7-TIAL-PROBEN
.
45
3.4
KONVERGENTE
GROSSWINKEL-BEUGUNGSBILDER
.
45
3.5
DER
DETEKTOR
.
50
3.5.1
EXPERIMENTELLE
ERMITTLUNG
DER
POINT
SPREAD-FUNKTION
.
53
3.6
FOTOGRAPHISCHE
VERARBEITUNG
VON
CBED-NEGATIVEN
.
59
3.7
AUFBAU
DES
SIMULATIONSPROGRAMMES
FUER
DIE
BERECHNUNG
VON
ZWEI
DIMENSIONALEN
CBED-BILDERN
.
61
3.7.1
STRUKTURFAKTOREN
FUER
SIMULATIONSRECHNUNGEN
.
61
3.7.2
STRUKTURFAKTOREN
UND
ABSORPTION
.
65
3.7.3
PARALLELISIERUNG
DES
SIMULATIONSPROGRAMMS
.
67
3.8
DIE
BESTIMMUNG
VON
STRUKTURFAKTOREN
.
67
3.8.1
DAS
VERFAHREN
VON
ZUO
&
SPENCE
.
67
3.8.2
DIE
NEUE
METHODE
ZUR
STRUKTURFAKTORBESTIMMUNG
.
73
3.9
BESTIMMUNG
DER
DEBYE-WALLER-FAKTOREN
.
91
4
EXPERIMENTELLE
ERGEBNISSE
92
4.1
ERGEBNISSE
DER
AUSWERTUNG
VON
HOCH-INDIZIERTEN
REFLEXEN
.
92
4.1.1
SIMULATION
VON
LACBED-BILDERN
.
92
4.1.2
MESSUNG
VON
GITTERVERZERRUNGEN
IN
AL
-
(SIC)
W
.
95
4.1.3
BESTIMMUNG
DER
HOCHSPANNUNG
DES
MIKROSKOPS
.
100
4.2
ERGEBNISSE
DER
STRUKTURFAKTORBESTIMMUNG
.
103
4.2.1
STRUKTURFAKTOREN
VON
SILIZIUM
.
103
4.2.2
FEHLER
BEI
DER
STRUKTURFAKTORBESTIMMUNG
.
112
4.2.3
VERGLEICH
DER
FEHLERGRENZEN
MIT
ANDEREN
METHODEN
ZUR
STRUKTURFAKTORBESTIMMUNG
.
116
4.3
LADUNGSDICHTEVERTEILUNG
IN
SI
.
118
INHALTSVERZEICHNIS
3
4.4
UNTERSUCHUNGEN
VON
7-TIAL
.
122
4.4.1
STRUKTURFAKTORBESTIMMUNG
IN
7-TIAL
.
122
4.4.2
BESTIMMUNG
VON
DEBYE-WALLER-FAKTOREN
IN
7-TIAL
.
125
5
DISKUSSION
128
5.1
DISKUSSION
DER
METHODE
ZUR
AUSWERTUNG
HOCH-INDIZIERTER
REFLEXE
.
128
5.1.1
SCHLUSSFOLGERUNGEN
UND
AUSBLICK
FUER
DIE
BESTIMMUNG
VON
GITTERPARAMETERN
.
131
5.2
DISKUSSION
DER
METHODE
ZUR
STRUKTURFAKTORBESTIMMUNG
.
133
5.2.1
VERGLEICH
DER
HIER
VERWENDETEN
METHODE
MIT
ANDEREN
ME
THODEN
ZUR
STRUKTURFAKTORBESTIMMUNG
.
138
5.2.2
GRENZEN
DER
HIER
ANGEWANDTEN
METHODE
.
ZUR
.
STRUKTURFAK
TORBESTIMMUNG
143
5.2.3
LADUNGSDICHTEVERTEILUNG
IN
7-TIAL
.
143
5.2.4
SCHLUSSFOLGERUNGEN
UND
AUSBLICK
FUER
DIE
BESTIMMUNG
VON
STRUKTURFAKTOREN
.
144
A
DIE
BERECHNUNG
VON
BEUGUNGSINTENSITAETEN
IN
DER
KINEMATISCHEN
NAEHERUNG
145
B
STOERUNGSRECHNUNG
MIT
HILFE
VON
BETHE-POTENTIALEN
148
C
BESTIMMUNG
VON
KRISTALLDICKE
UND
STRUKTURFAKTOREN
MIT
DEM
ZWEI-STRAHL-FALL
150 |
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