Stenkamp, D. (1993). Kompositionelle und strukturelle Charakterisierung von verspannten Si/SiGe-Heterostrukturen mit hochauflösender Transmissionselektronenmikroskopie.
Chicago Style (17th ed.) CitationStenkamp, Dirk. Kompositionelle Und Strukturelle Charakterisierung Von Verspannten Si/SiGe-Heterostrukturen Mit Hochauflösender Transmissionselektronenmikroskopie. 1993.
MLA (9th ed.) CitationStenkamp, Dirk. Kompositionelle Und Strukturelle Charakterisierung Von Verspannten Si/SiGe-Heterostrukturen Mit Hochauflösender Transmissionselektronenmikroskopie. 1993.
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