Selbsttest von nicht-regulären CMOS-Schaltungen in sicherheitskritischen Anwendungen:
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1994
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INHALTSVERZEICHNIS
ABKUERZUNGEN
UND
BEZEICHNUNGEN
.
1
1
EINLEITUNG
.
3
2
EINFUEHRUNG
IN
DEN
RUHESTROM-TEST
.
11
2.1
ERKENNUNG
VON
SCHALTUNGSDEFEKTEN
DURCH
DEN
I^-TEST
.
12
2.1.1
TRANSIENTE
UND
STATISCHE
STROMAUFHAHME
IN
CMOS-SCHALTUNGEN
.
13
2.1.2
PRINZIP
DES
I^-TEST
.
17
2.1.3
URSACHEN
FUER
LECKSTROMFEHLER
UND
IHRE
AUSWIRKUNGEN
AUF
DIE
SCHALTUNG
.
22
2.2
BISHERIGE
KONZEPTE
FUER
EINGEBAUTE
STROMSENSOREN
.
27
2.2.1
STATISCHE
MESSVERFAHREN
.
28
2.2.2
DYNAMISCHE
MESSVERFAHREN
.
30
3
NEUE
SCHALTUNGSKONZEPTE
FUER
EINGEBAUTE
STROMSENSOREN
.
33
3.1
UNTERSCHEIDUNG
ZWISCHEN
VDD
UND
GND-SENSOR
.
34
3.2
SCHALTUNGSKONZEPTE
FUER
DEN
STATISCHEN
STROMSENSOR
.
36
3.3
SCHALTUNGSKONZEPT
FUER
DEN
DYNAMISCHEN
STROMSENSOR
.
39
3.4
ONLINE
UND
OFFLINE-EINSATZ
DER
STROMSENSORKONZEPTE
.
44
3.5
ANALYSE
DER
ENTWURFSPARAMETER
.
46
3.5.1
DIMENSIONIERUNG
DES
BYPASS-TRANSISTORS
.
47
3.5.2
ENTWURF
DES
STATISCHEN
STROMSENSORS
.
49
3.5.3
ENTWURF
DES
DYNAMISCHEN
STROMSENSORS
.
52
3.6
BEWERTUNG
UND
VERGLEICH
DER
STROMSENSORKONZEPTE
.
56
3.6.1
BESCHREIBUNG
DES
TESTCHIPS
.
56
3.6.2
AUSWERTUNGSERGEBNISSE
DES
TESTCHIPS
.
59
3.6.3
VERGLEICH
DER
STROMSENSORKONZEPTE
.
62
4
OPTIMIERUNG
UND
TEST
DES
DYNAMISCHEN
STROMSENSORS
.
66
4.1
OPTIMIERUNG
DER
I^-TESTAUSWERTUNG
FUER
GROESSERE
SCHALTUNGSBLOECKE
.
67
4.1.1
PROBLEMSTELLUNG
UND
MODELLIERUNG
.
67
4.1.2
MEHRSTUFIGE
AUSWERTESCHALTUNG
.
69
4.2
TEST
DES
DYNAMISCHEN
STROMSENSORS
.
75
4.2.1
ANALYSE
DER
SCHALTUNGSFEHLER
.
75
4.2.2
TESTMUSTER
UND
ZUSATZBESCHALTUNG
FUER
DEN
TEST
DES
DYNAMISCHEN
STROMSENSORS
.
80
5
NEUES
BIST-VERFAHREN
FUER
DEN
LOGISCHEN
UND
PARAMETRISCHEN
SELBSTTEST
.
85
5.1
KONZEPTION
DES
BIST-VERFAHRENS
.
86
5.2
ANFORDERUNGEN
AN
DEN
ENTWURF
DES
CUT
.
90
5.3
KOSTENBILANZ
DES
BILCST-VERFAHRENS
.
93
5.4
BESTIMMUNG
EINER
OPTIMALEN
PARTITIONIERUNG
DES
CUT
.
100
6
BESTIMMUNG
DER
FEHLERERFASSUNG
.
106
6.1
METHODIK
.
107
6.2
ERGEBNISSE
DER
FEHLERSIMULATION
DES
9-BIT
ADDIERERS
.
109
7
ZUSAMMENFASSUNG
.
114
8
LITERATUR
.
117
ANHANG
.
124
AL
VERRINGERUNG
DER
SCHALLGESCHWINDIGKEIT
DURCH
DEN
BYPASS-TRANSISTOR
.
.
.
124
A2
AUSWIRKUNGEN
VON
LECKSTROMFEHLEM
.
125
A3
BESTIMMUNG
DER
ERSATZKAPAZITAETEN
AN
VVDD
UND
DER
AUSWERTEZEITEN
FUER
DEN
DYNAMISCHEN
STROMSENSOR
.
127
A4
EIGEBNISSE
DER
FEHLERANALYSE
FUER
DEN
DYNAMISCHEN
STROMSENSOR
.
129
A5
LINEAR
RUECKGEKOPPELTE
SCHIEBEREGISTER
.
131
LEBENSLAUF
.
133 |
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