Praxis der Rasterelektronenmikroskopie und Mikrobereichsanalyse: mit 304 Literaturstellen
Gespeichert in:
| Format: | Buch |
|---|---|
| Sprache: | German |
| Veröffentlicht: |
Renningen-Malmsheim
Expert-Verl.
1994
|
| Schriftenreihe: | Kontakt & Studium
444 : Meßtechnik |
| Schlagworte: | |
| Beschreibung: | 810 S. zahlr. Ill. und graph. Darst. |
| ISBN: | 3816910386 |
Internformat
MARC
| LEADER | 00000nam a2200000 cb4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | BV009753376 | ||
| 003 | DE-604 | ||
| 005 | 20230206 | ||
| 007 | t | ||
| 008 | 940809s1994 gw ad|| |||| 00||| ger d | ||
| 020 | |a 3816910386 |9 3-8169-1038-6 | ||
| 035 | |a (OCoLC)246601760 | ||
| 035 | |a (DE-599)BVBBV009753376 | ||
| 040 | |a DE-604 |b ger |e rakddb | ||
| 041 | 0 | |a ger | |
| 044 | |a gw |c DE | ||
| 049 | |a DE-29 |a DE-29T |a DE-898 |a DE-355 |a DE-M347 |a DE-703 |a DE-92 |a DE-859 |a DE-91 |a DE-91G |a DE-Aug4 |a DE-1046 |a DE-1047 |a DE-858 |a DE-19 |a DE-522 |a DE-523 |a DE-526 |a DE-634 |a DE-83 |a DE-11 |a DE-B16 |a DE-706 | ||
| 084 | |a UH 6300 |0 (DE-625)159498: |2 rvk | ||
| 084 | |a UH 6310 |0 (DE-625)159500: |2 rvk | ||
| 084 | |a VG 9900 |0 (DE-625)147245:253 |2 rvk | ||
| 084 | |a WC 3100 |0 (DE-625)148081: |2 rvk | ||
| 084 | |a ZM 3700 |0 (DE-625)157028: |2 rvk | ||
| 084 | |a PHY 160f |2 stub | ||
| 084 | |a WER 780f |2 stub | ||
| 084 | |a WER 089f |2 stub | ||
| 084 | |a PHY 135f |2 stub | ||
| 245 | 1 | 0 | |a Praxis der Rasterelektronenmikroskopie und Mikrobereichsanalyse |b mit 304 Literaturstellen |c Peter Fritz Schmidt ... |
| 264 | 1 | |a Renningen-Malmsheim |b Expert-Verl. |c 1994 | |
| 300 | |a 810 S. |b zahlr. Ill. und graph. Darst. | ||
| 336 | |b txt |2 rdacontent | ||
| 337 | |b n |2 rdamedia | ||
| 338 | |b nc |2 rdacarrier | ||
| 490 | 1 | |a Kontakt & Studium |v 444 : Meßtechnik | |
| 650 | 4 | |a Scanning electron microscopy | |
| 650 | 0 | 7 | |a Mikrostruktur |0 (DE-588)4131028-7 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Oberflächeneigenschaft |0 (DE-588)4219221-3 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Rasterelektronenmikroskopie |0 (DE-588)4048455-5 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Mikroanalyse |0 (DE-588)4169804-6 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Mikrosonde |0 (DE-588)4135991-4 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 655 | 7 | |0 (DE-588)4143413-4 |a Aufsatzsammlung |2 gnd-content | |
| 689 | 0 | 0 | |a Mikroanalyse |0 (DE-588)4169804-6 |D s |
| 689 | 0 | |5 DE-604 | |
| 689 | 1 | 0 | |a Mikrosonde |0 (DE-588)4135991-4 |D s |
| 689 | 1 | 1 | |a Rasterelektronenmikroskopie |0 (DE-588)4048455-5 |D s |
| 689 | 1 | |5 DE-604 | |
| 689 | 2 | 0 | |a Rasterelektronenmikroskopie |0 (DE-588)4048455-5 |D s |
| 689 | 2 | 1 | |a Oberflächeneigenschaft |0 (DE-588)4219221-3 |D s |
| 689 | 2 | 2 | |a Mikrostruktur |0 (DE-588)4131028-7 |D s |
| 689 | 2 | |5 DE-604 | |
| 700 | 1 | |a Schmidt, Peter Fritz |e Sonstige |4 oth | |
| 830 | 0 | |a Kontakt & Studium |v 444 : Meßtechnik |w (DE-604)BV023552136 |9 444 | |
Datensatz im Suchindex
| _version_ | 1805084879284600832 |
|---|---|
| adam_text | |
| any_adam_object | |
| building | Verbundindex |
| bvnumber | BV009753376 |
| classification_rvk | UH 6300 UH 6310 VG 9900 WC 3100 ZM 3700 |
| classification_tum | PHY 160f WER 780f WER 089f PHY 135f |
| ctrlnum | (OCoLC)246601760 (DE-599)BVBBV009753376 |
| discipline | Chemie / Pharmazie Physik Biologie Werkstoffwissenschaften Werkstoffwissenschaften / Fertigungstechnik |
| format | Book |
| fullrecord | <?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?><collection xmlns="http://www.loc.gov/MARC21/slim"><record><leader>00000nam a2200000 cb4500</leader><controlfield tag="001">BV009753376</controlfield><controlfield tag="003">DE-604</controlfield><controlfield tag="005">20230206</controlfield><controlfield tag="007">t</controlfield><controlfield tag="008">940809s1994 gw ad|| |||| 00||| ger d</controlfield><datafield tag="020" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">3816910386</subfield><subfield code="9">3-8169-1038-6</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(OCoLC)246601760</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(DE-599)BVBBV009753376</subfield></datafield><datafield tag="040" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-604</subfield><subfield code="b">ger</subfield><subfield code="e">rakddb</subfield></datafield><datafield tag="041" ind1="0" ind2=" "><subfield code="a">ger</subfield></datafield><datafield tag="044" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">gw</subfield><subfield code="c">DE</subfield></datafield><datafield tag="049" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-29</subfield><subfield code="a">DE-29T</subfield><subfield code="a">DE-898</subfield><subfield code="a">DE-355</subfield><subfield code="a">DE-M347</subfield><subfield code="a">DE-703</subfield><subfield code="a">DE-92</subfield><subfield code="a">DE-859</subfield><subfield code="a">DE-91</subfield><subfield code="a">DE-91G</subfield><subfield code="a">DE-Aug4</subfield><subfield code="a">DE-1046</subfield><subfield code="a">DE-1047</subfield><subfield code="a">DE-858</subfield><subfield code="a">DE-19</subfield><subfield code="a">DE-522</subfield><subfield code="a">DE-523</subfield><subfield code="a">DE-526</subfield><subfield code="a">DE-634</subfield><subfield code="a">DE-83</subfield><subfield code="a">DE-11</subfield><subfield code="a">DE-B16</subfield><subfield code="a">DE-706</subfield></datafield><datafield tag="084" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">UH 6300</subfield><subfield code="0">(DE-625)159498:</subfield><subfield code="2">rvk</subfield></datafield><datafield tag="084" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">UH 6310</subfield><subfield code="0">(DE-625)159500:</subfield><subfield code="2">rvk</subfield></datafield><datafield tag="084" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">VG 9900</subfield><subfield code="0">(DE-625)147245:253</subfield><subfield code="2">rvk</subfield></datafield><datafield tag="084" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">WC 3100</subfield><subfield code="0">(DE-625)148081:</subfield><subfield code="2">rvk</subfield></datafield><datafield tag="084" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">ZM 3700</subfield><subfield code="0">(DE-625)157028:</subfield><subfield code="2">rvk</subfield></datafield><datafield tag="084" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">PHY 160f</subfield><subfield code="2">stub</subfield></datafield><datafield tag="084" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">WER 780f</subfield><subfield code="2">stub</subfield></datafield><datafield tag="084" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">WER 089f</subfield><subfield code="2">stub</subfield></datafield><datafield tag="084" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">PHY 135f</subfield><subfield code="2">stub</subfield></datafield><datafield tag="245" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">Praxis der Rasterelektronenmikroskopie und Mikrobereichsanalyse</subfield><subfield code="b">mit 304 Literaturstellen</subfield><subfield code="c">Peter Fritz Schmidt ...</subfield></datafield><datafield tag="264" ind1=" " ind2="1"><subfield code="a">Renningen-Malmsheim</subfield><subfield code="b">Expert-Verl.</subfield><subfield code="c">1994</subfield></datafield><datafield tag="300" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">810 S.</subfield><subfield code="b">zahlr. Ill. und graph. Darst.</subfield></datafield><datafield tag="336" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">txt</subfield><subfield code="2">rdacontent</subfield></datafield><datafield tag="337" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">n</subfield><subfield code="2">rdamedia</subfield></datafield><datafield tag="338" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">nc</subfield><subfield code="2">rdacarrier</subfield></datafield><datafield tag="490" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Kontakt & Studium</subfield><subfield code="v">444 : Meßtechnik</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1=" " ind2="4"><subfield code="a">Scanning electron microscopy</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Mikrostruktur</subfield><subfield code="0">(DE-588)4131028-7</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Oberflächeneigenschaft</subfield><subfield code="0">(DE-588)4219221-3</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Rasterelektronenmikroskopie</subfield><subfield code="0">(DE-588)4048455-5</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Mikroanalyse</subfield><subfield code="0">(DE-588)4169804-6</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Mikrosonde</subfield><subfield code="0">(DE-588)4135991-4</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="655" ind1=" " ind2="7"><subfield code="0">(DE-588)4143413-4</subfield><subfield code="a">Aufsatzsammlung</subfield><subfield code="2">gnd-content</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="0"><subfield code="a">Mikroanalyse</subfield><subfield code="0">(DE-588)4169804-6</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2=" "><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">Mikrosonde</subfield><subfield code="0">(DE-588)4135991-4</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2="1"><subfield code="a">Rasterelektronenmikroskopie</subfield><subfield code="0">(DE-588)4048455-5</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="1" ind2=" "><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="2" ind2="0"><subfield code="a">Rasterelektronenmikroskopie</subfield><subfield code="0">(DE-588)4048455-5</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="2" ind2="1"><subfield code="a">Oberflächeneigenschaft</subfield><subfield code="0">(DE-588)4219221-3</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="2" ind2="2"><subfield code="a">Mikrostruktur</subfield><subfield code="0">(DE-588)4131028-7</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="2" ind2=" "><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="700" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Schmidt, Peter Fritz</subfield><subfield code="e">Sonstige</subfield><subfield code="4">oth</subfield></datafield><datafield tag="830" ind1=" " ind2="0"><subfield code="a">Kontakt & Studium</subfield><subfield code="v">444 : Meßtechnik</subfield><subfield code="w">(DE-604)BV023552136</subfield><subfield code="9">444</subfield></datafield></record></collection> |
| genre | (DE-588)4143413-4 Aufsatzsammlung gnd-content |
| genre_facet | Aufsatzsammlung |
| id | DE-604.BV009753376 |
| illustrated | Illustrated |
| indexdate | 2024-07-20T08:11:28Z |
| institution | BVB |
| isbn | 3816910386 |
| language | German |
| oai_aleph_id | oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-006450744 |
| oclc_num | 246601760 |
| open_access_boolean | |
| owner | DE-29 DE-29T DE-898 DE-BY-UBR DE-355 DE-BY-UBR DE-M347 DE-703 DE-92 DE-859 DE-91 DE-BY-TUM DE-91G DE-BY-TUM DE-Aug4 DE-1046 DE-1047 DE-858 DE-19 DE-BY-UBM DE-522 DE-523 DE-526 DE-634 DE-83 DE-11 DE-B16 DE-706 |
| owner_facet | DE-29 DE-29T DE-898 DE-BY-UBR DE-355 DE-BY-UBR DE-M347 DE-703 DE-92 DE-859 DE-91 DE-BY-TUM DE-91G DE-BY-TUM DE-Aug4 DE-1046 DE-1047 DE-858 DE-19 DE-BY-UBM DE-522 DE-523 DE-526 DE-634 DE-83 DE-11 DE-B16 DE-706 |
| physical | 810 S. zahlr. Ill. und graph. Darst. |
| publishDate | 1994 |
| publishDateSearch | 1994 |
| publishDateSort | 1994 |
| publisher | Expert-Verl. |
| record_format | marc |
| series | Kontakt & Studium |
| series2 | Kontakt & Studium |
| spelling | Praxis der Rasterelektronenmikroskopie und Mikrobereichsanalyse mit 304 Literaturstellen Peter Fritz Schmidt ... Renningen-Malmsheim Expert-Verl. 1994 810 S. zahlr. Ill. und graph. Darst. txt rdacontent n rdamedia nc rdacarrier Kontakt & Studium 444 : Meßtechnik Scanning electron microscopy Mikrostruktur (DE-588)4131028-7 gnd rswk-swf Oberflächeneigenschaft (DE-588)4219221-3 gnd rswk-swf Rasterelektronenmikroskopie (DE-588)4048455-5 gnd rswk-swf Mikroanalyse (DE-588)4169804-6 gnd rswk-swf Mikrosonde (DE-588)4135991-4 gnd rswk-swf (DE-588)4143413-4 Aufsatzsammlung gnd-content Mikroanalyse (DE-588)4169804-6 s DE-604 Mikrosonde (DE-588)4135991-4 s Rasterelektronenmikroskopie (DE-588)4048455-5 s Oberflächeneigenschaft (DE-588)4219221-3 s Mikrostruktur (DE-588)4131028-7 s Schmidt, Peter Fritz Sonstige oth Kontakt & Studium 444 : Meßtechnik (DE-604)BV023552136 444 |
| spellingShingle | Praxis der Rasterelektronenmikroskopie und Mikrobereichsanalyse mit 304 Literaturstellen Kontakt & Studium Scanning electron microscopy Mikrostruktur (DE-588)4131028-7 gnd Oberflächeneigenschaft (DE-588)4219221-3 gnd Rasterelektronenmikroskopie (DE-588)4048455-5 gnd Mikroanalyse (DE-588)4169804-6 gnd Mikrosonde (DE-588)4135991-4 gnd |
| subject_GND | (DE-588)4131028-7 (DE-588)4219221-3 (DE-588)4048455-5 (DE-588)4169804-6 (DE-588)4135991-4 (DE-588)4143413-4 |
| title | Praxis der Rasterelektronenmikroskopie und Mikrobereichsanalyse mit 304 Literaturstellen |
| title_auth | Praxis der Rasterelektronenmikroskopie und Mikrobereichsanalyse mit 304 Literaturstellen |
| title_exact_search | Praxis der Rasterelektronenmikroskopie und Mikrobereichsanalyse mit 304 Literaturstellen |
| title_full | Praxis der Rasterelektronenmikroskopie und Mikrobereichsanalyse mit 304 Literaturstellen Peter Fritz Schmidt ... |
| title_fullStr | Praxis der Rasterelektronenmikroskopie und Mikrobereichsanalyse mit 304 Literaturstellen Peter Fritz Schmidt ... |
| title_full_unstemmed | Praxis der Rasterelektronenmikroskopie und Mikrobereichsanalyse mit 304 Literaturstellen Peter Fritz Schmidt ... |
| title_short | Praxis der Rasterelektronenmikroskopie und Mikrobereichsanalyse |
| title_sort | praxis der rasterelektronenmikroskopie und mikrobereichsanalyse mit 304 literaturstellen |
| title_sub | mit 304 Literaturstellen |
| topic | Scanning electron microscopy Mikrostruktur (DE-588)4131028-7 gnd Oberflächeneigenschaft (DE-588)4219221-3 gnd Rasterelektronenmikroskopie (DE-588)4048455-5 gnd Mikroanalyse (DE-588)4169804-6 gnd Mikrosonde (DE-588)4135991-4 gnd |
| topic_facet | Scanning electron microscopy Mikrostruktur Oberflächeneigenschaft Rasterelektronenmikroskopie Mikroanalyse Mikrosonde Aufsatzsammlung |
| volume_link | (DE-604)BV023552136 |
| work_keys_str_mv | AT schmidtpeterfritz praxisderrasterelektronenmikroskopieundmikrobereichsanalysemit304literaturstellen |