AOQ bis Zuverlässigkeit am Beispiel von Halbleitern: eine Einführung
Saved in:
| Format: | Book |
|---|---|
| Language: | Undetermined |
| Published: |
Freising
Texas Instruments
1990
|
| Edition: | 1. Aufl. |
| Series: | Das Qualitäts-ABC
|
| Subjects: | |
| Physical Description: | 99 S. zahlr. Ill. und graph. Darst. |
| ISBN: | 3880780854 |
Staff View
MARC
| LEADER | 00000nam a2200000 c 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | BV009626605 | ||
| 003 | DE-604 | ||
| 005 | 00000000000000.0 | ||
| 007 | t | ||
| 008 | 940606s1990 ad|| |||| 00||| und d | ||
| 020 | |a 3880780854 |9 3-88078-085-4 | ||
| 035 | |a (OCoLC)246241453 | ||
| 035 | |a (DE-599)BVBBV009626605 | ||
| 040 | |a DE-604 |b ger |e rakddb | ||
| 041 | |a und | ||
| 049 | |a DE-Aug4 | ||
| 084 | |a QP 500 |0 (DE-625)141894: |2 rvk | ||
| 245 | 1 | 0 | |a AOQ bis Zuverlässigkeit am Beispiel von Halbleitern |b eine Einführung |c [Autorenteam: Konrad Dell ...] |
| 250 | |a 1. Aufl. | ||
| 264 | 1 | |a Freising |b Texas Instruments |c 1990 | |
| 300 | |a 99 S. |b zahlr. Ill. und graph. Darst. | ||
| 336 | |b txt |2 rdacontent | ||
| 337 | |b n |2 rdamedia | ||
| 338 | |b nc |2 rdacarrier | ||
| 490 | 0 | |a Das Qualitäts-ABC | |
| 650 | 0 | 7 | |a Qualitätssicherung |0 (DE-588)4126457-5 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Halbleiterindustrie |0 (DE-588)4158803-4 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 689 | 0 | 0 | |a Halbleiterindustrie |0 (DE-588)4158803-4 |D s |
| 689 | 0 | 1 | |a Qualitätssicherung |0 (DE-588)4126457-5 |D s |
| 689 | 0 | |5 DE-604 | |
| 700 | 1 | |a Dell, Konrad |e Sonstige |4 oth | |
| 999 | |a oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-006361981 | ||
Record in the Search Index
| _version_ | 1804123966346887168 |
|---|---|
| any_adam_object | |
| building | Verbundindex |
| bvnumber | BV009626605 |
| classification_rvk | QP 500 |
| ctrlnum | (OCoLC)246241453 (DE-599)BVBBV009626605 |
| discipline | Wirtschaftswissenschaften |
| edition | 1. Aufl. |
| format | Book |
| fullrecord | <?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?><collection xmlns="http://www.loc.gov/MARC21/slim"><record><leader>01153nam a2200349 c 4500</leader><controlfield tag="001">BV009626605</controlfield><controlfield tag="003">DE-604</controlfield><controlfield tag="005">00000000000000.0</controlfield><controlfield tag="007">t</controlfield><controlfield tag="008">940606s1990 ad|| |||| 00||| und d</controlfield><datafield tag="020" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">3880780854</subfield><subfield code="9">3-88078-085-4</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(OCoLC)246241453</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(DE-599)BVBBV009626605</subfield></datafield><datafield tag="040" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-604</subfield><subfield code="b">ger</subfield><subfield code="e">rakddb</subfield></datafield><datafield tag="041" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">und</subfield></datafield><datafield tag="049" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-Aug4</subfield></datafield><datafield tag="084" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">QP 500</subfield><subfield code="0">(DE-625)141894:</subfield><subfield code="2">rvk</subfield></datafield><datafield tag="245" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">AOQ bis Zuverlässigkeit am Beispiel von Halbleitern</subfield><subfield code="b">eine Einführung</subfield><subfield code="c">[Autorenteam: Konrad Dell ...]</subfield></datafield><datafield tag="250" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">1. Aufl.</subfield></datafield><datafield tag="264" ind1=" " ind2="1"><subfield code="a">Freising</subfield><subfield code="b">Texas Instruments</subfield><subfield code="c">1990</subfield></datafield><datafield tag="300" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">99 S.</subfield><subfield code="b">zahlr. Ill. und graph. Darst.</subfield></datafield><datafield tag="336" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">txt</subfield><subfield code="2">rdacontent</subfield></datafield><datafield tag="337" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">n</subfield><subfield code="2">rdamedia</subfield></datafield><datafield tag="338" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">nc</subfield><subfield code="2">rdacarrier</subfield></datafield><datafield tag="490" ind1="0" ind2=" "><subfield code="a">Das Qualitäts-ABC</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Qualitätssicherung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4126457-5</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Halbleiterindustrie</subfield><subfield code="0">(DE-588)4158803-4</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="0"><subfield code="a">Halbleiterindustrie</subfield><subfield code="0">(DE-588)4158803-4</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="1"><subfield code="a">Qualitätssicherung</subfield><subfield code="0">(DE-588)4126457-5</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2=" "><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="700" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Dell, Konrad</subfield><subfield code="e">Sonstige</subfield><subfield code="4">oth</subfield></datafield><datafield tag="999" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-006361981</subfield></datafield></record></collection> |
| id | DE-604.BV009626605 |
| illustrated | Illustrated |
| indexdate | 2024-07-09T17:38:10Z |
| institution | BVB |
| isbn | 3880780854 |
| language | Undetermined |
| oai_aleph_id | oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-006361981 |
| oclc_num | 246241453 |
| open_access_boolean | |
| owner | DE-Aug4 |
| owner_facet | DE-Aug4 |
| physical | 99 S. zahlr. Ill. und graph. Darst. |
| publishDate | 1990 |
| publishDateSearch | 1990 |
| publishDateSort | 1990 |
| publisher | Texas Instruments |
| record_format | marc |
| series2 | Das Qualitäts-ABC |
| spelling | AOQ bis Zuverlässigkeit am Beispiel von Halbleitern eine Einführung [Autorenteam: Konrad Dell ...] 1. Aufl. Freising Texas Instruments 1990 99 S. zahlr. Ill. und graph. Darst. txt rdacontent n rdamedia nc rdacarrier Das Qualitäts-ABC Qualitätssicherung (DE-588)4126457-5 gnd rswk-swf Halbleiterindustrie (DE-588)4158803-4 gnd rswk-swf Halbleiterindustrie (DE-588)4158803-4 s Qualitätssicherung (DE-588)4126457-5 s DE-604 Dell, Konrad Sonstige oth |
| spellingShingle | AOQ bis Zuverlässigkeit am Beispiel von Halbleitern eine Einführung Qualitätssicherung (DE-588)4126457-5 gnd Halbleiterindustrie (DE-588)4158803-4 gnd |
| subject_GND | (DE-588)4126457-5 (DE-588)4158803-4 |
| title | AOQ bis Zuverlässigkeit am Beispiel von Halbleitern eine Einführung |
| title_auth | AOQ bis Zuverlässigkeit am Beispiel von Halbleitern eine Einführung |
| title_exact_search | AOQ bis Zuverlässigkeit am Beispiel von Halbleitern eine Einführung |
| title_full | AOQ bis Zuverlässigkeit am Beispiel von Halbleitern eine Einführung [Autorenteam: Konrad Dell ...] |
| title_fullStr | AOQ bis Zuverlässigkeit am Beispiel von Halbleitern eine Einführung [Autorenteam: Konrad Dell ...] |
| title_full_unstemmed | AOQ bis Zuverlässigkeit am Beispiel von Halbleitern eine Einführung [Autorenteam: Konrad Dell ...] |
| title_short | AOQ bis Zuverlässigkeit am Beispiel von Halbleitern |
| title_sort | aoq bis zuverlassigkeit am beispiel von halbleitern eine einfuhrung |
| title_sub | eine Einführung |
| topic | Qualitätssicherung (DE-588)4126457-5 gnd Halbleiterindustrie (DE-588)4158803-4 gnd |
| topic_facet | Qualitätssicherung Halbleiterindustrie |
| work_keys_str_mv | AT dellkonrad aoqbiszuverlassigkeitambeispielvonhalbleiterneineeinfuhrung |