Quantitative Untersuchung von Defekten auf Oberflächen von III - V-Verbindungshalbleitern mit dem Rastertunnelmikroskop:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Ebert, Philipp (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: 1993
Schlagworte:
Beschreibung:Aachen, Techn. Hochsch., Diss., 1993. - Auch als: Berichte des Forschungszentrums Jülich. 2785
Beschreibung:IV, 149 S. Ill., graph. Darst.

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