Schöner, A. (1994). Elektrische Charakterisierung von flachen und tiefen Störstellen in 4H-, 6H- und 15R-Siliziumkarbid.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Schöner, Adolf. Elektrische Charakterisierung Von Flachen Und Tiefen Störstellen in 4H-, 6H- Und 15R-Siliziumkarbid. 1994.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Schöner, Adolf. Elektrische Charakterisierung Von Flachen Und Tiefen Störstellen in 4H-, 6H- Und 15R-Siliziumkarbid. 1994.
Achtung: Diese Zitate sind unter Umständen nicht zu 100% korrekt.