APA (7th ed.) Citation

Schöner, A. (1994). Elektrische Charakterisierung von flachen und tiefen Störstellen in 4H-, 6H- und 15R-Siliziumkarbid.

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Schöner, Adolf. Elektrische Charakterisierung Von Flachen Und Tiefen Störstellen in 4H-, 6H- Und 15R-Siliziumkarbid. 1994.

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Schöner, Adolf. Elektrische Charakterisierung Von Flachen Und Tiefen Störstellen in 4H-, 6H- Und 15R-Siliziumkarbid. 1994.

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