(1986). Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS, Sekundär-Ionen-Massenspektrometrie, AES, Auger-Elektronen-Spektrometrie, XPS, Röntgen-Photoelektronen-Spektrometrie: Mit 20 Tabellen. Springer.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Angewandte Oberflächenanalyse Mit SIMS, Sekundär-Ionen-Massenspektrometrie, AES, Auger-Elektronen-Spektrometrie, XPS, Röntgen-Photoelektronen-Spektrometrie: Mit 20 Tabellen. Berlin [u.a.]: Springer, 1986.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Angewandte Oberflächenanalyse Mit SIMS, Sekundär-Ionen-Massenspektrometrie, AES, Auger-Elektronen-Spektrometrie, XPS, Röntgen-Photoelektronen-Spektrometrie: Mit 20 Tabellen. Springer, 1986.
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