Entwicklung und systemanalytische Untersuchung eines Laser-Scan-Mikroskops mit integriert-optischer Einseitenbanddetektion:
Gespeichert in:
| 1. Verfasser: | |
|---|---|
| Format: | Buch |
| Sprache: | German |
| Veröffentlicht: |
Düsseldorf
VDI Verl.
1991
|
| Schriftenreihe: | Verein Deutscher Ingenieure: Fortschritt-Berichte VDI / 08
232 |
| Schlagworte: | |
| Beschreibung: | 145 S. Ill., graph. Darst. |
| ISBN: | 3181432083 |
Internformat
MARC
| LEADER | 00000nam a2200000 cb4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | BV008979885 | ||
| 003 | DE-604 | ||
| 005 | 00000000000000.0 | ||
| 007 | t | ||
| 008 | 940206s1991 ad|| |||| 00||| ger d | ||
| 020 | |a 3181432083 |9 3-18-143208-3 | ||
| 035 | |a (OCoLC)75224259 | ||
| 035 | |a (DE-599)BVBBV008979885 | ||
| 040 | |a DE-604 |b ger |e rakddb | ||
| 041 | 0 | |a ger | |
| 049 | |a DE-29T | ||
| 084 | |a UH 6700 |0 (DE-625)145770: |2 rvk | ||
| 100 | 1 | |a Thaele, Rolf |e Verfasser |4 aut | |
| 245 | 1 | 0 | |a Entwicklung und systemanalytische Untersuchung eines Laser-Scan-Mikroskops mit integriert-optischer Einseitenbanddetektion |c Rolf Thaele |
| 264 | 1 | |a Düsseldorf |b VDI Verl. |c 1991 | |
| 300 | |a 145 S. |b Ill., graph. Darst. | ||
| 336 | |b txt |2 rdacontent | ||
| 337 | |b n |2 rdamedia | ||
| 338 | |b nc |2 rdacarrier | ||
| 490 | 1 | |a Verein Deutscher Ingenieure: Fortschritt-Berichte VDI / 08 |v 232 | |
| 650 | 0 | 7 | |a Einseitenbandverfahren |0 (DE-588)4151400-2 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Integrierte Optik |0 (DE-588)4027240-0 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 650 | 0 | 7 | |a Laser-Rastermikroskop |0 (DE-588)4195932-2 |2 gnd |9 rswk-swf |
| 689 | 0 | 0 | |a Laser-Rastermikroskop |0 (DE-588)4195932-2 |D s |
| 689 | 0 | 1 | |a Einseitenbandverfahren |0 (DE-588)4151400-2 |D s |
| 689 | 0 | 2 | |a Integrierte Optik |0 (DE-588)4027240-0 |D s |
| 689 | 0 | |8 1\p |5 DE-604 | |
| 810 | 2 | |a 08 |t Verein Deutscher Ingenieure: Fortschritt-Berichte VDI |v 232 |w (DE-604)BV000882482 |9 232 | |
| 999 | |a oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-005930535 | ||
| 883 | 1 | |8 1\p |a cgwrk |d 20201028 |q DE-101 |u https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk | |
Datensatz im Suchindex
| _version_ | 1804123318661414912 |
|---|---|
| any_adam_object | |
| author | Thaele, Rolf |
| author_facet | Thaele, Rolf |
| author_role | aut |
| author_sort | Thaele, Rolf |
| author_variant | r t rt |
| building | Verbundindex |
| bvnumber | BV008979885 |
| classification_rvk | UH 6700 |
| ctrlnum | (OCoLC)75224259 (DE-599)BVBBV008979885 |
| discipline | Physik |
| format | Book |
| fullrecord | <?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?><collection xmlns="http://www.loc.gov/MARC21/slim"><record><leader>01522nam a2200385 cb4500</leader><controlfield tag="001">BV008979885</controlfield><controlfield tag="003">DE-604</controlfield><controlfield tag="005">00000000000000.0</controlfield><controlfield tag="007">t</controlfield><controlfield tag="008">940206s1991 ad|| |||| 00||| ger d</controlfield><datafield tag="020" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">3181432083</subfield><subfield code="9">3-18-143208-3</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(OCoLC)75224259</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(DE-599)BVBBV008979885</subfield></datafield><datafield tag="040" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-604</subfield><subfield code="b">ger</subfield><subfield code="e">rakddb</subfield></datafield><datafield tag="041" ind1="0" ind2=" "><subfield code="a">ger</subfield></datafield><datafield tag="049" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-29T</subfield></datafield><datafield tag="084" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">UH 6700</subfield><subfield code="0">(DE-625)145770:</subfield><subfield code="2">rvk</subfield></datafield><datafield tag="100" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Thaele, Rolf</subfield><subfield code="e">Verfasser</subfield><subfield code="4">aut</subfield></datafield><datafield tag="245" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">Entwicklung und systemanalytische Untersuchung eines Laser-Scan-Mikroskops mit integriert-optischer Einseitenbanddetektion</subfield><subfield code="c">Rolf Thaele</subfield></datafield><datafield tag="264" ind1=" " ind2="1"><subfield code="a">Düsseldorf</subfield><subfield code="b">VDI Verl.</subfield><subfield code="c">1991</subfield></datafield><datafield tag="300" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">145 S.</subfield><subfield code="b">Ill., graph. Darst.</subfield></datafield><datafield tag="336" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">txt</subfield><subfield code="2">rdacontent</subfield></datafield><datafield tag="337" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">n</subfield><subfield code="2">rdamedia</subfield></datafield><datafield tag="338" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">nc</subfield><subfield code="2">rdacarrier</subfield></datafield><datafield tag="490" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Verein Deutscher Ingenieure: Fortschritt-Berichte VDI / 08</subfield><subfield code="v">232</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Einseitenbandverfahren</subfield><subfield code="0">(DE-588)4151400-2</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Integrierte Optik</subfield><subfield code="0">(DE-588)4027240-0</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1="0" ind2="7"><subfield code="a">Laser-Rastermikroskop</subfield><subfield code="0">(DE-588)4195932-2</subfield><subfield code="2">gnd</subfield><subfield code="9">rswk-swf</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="0"><subfield code="a">Laser-Rastermikroskop</subfield><subfield code="0">(DE-588)4195932-2</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="1"><subfield code="a">Einseitenbandverfahren</subfield><subfield code="0">(DE-588)4151400-2</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2="2"><subfield code="a">Integrierte Optik</subfield><subfield code="0">(DE-588)4027240-0</subfield><subfield code="D">s</subfield></datafield><datafield tag="689" ind1="0" ind2=" "><subfield code="8">1\p</subfield><subfield code="5">DE-604</subfield></datafield><datafield tag="810" ind1="2" ind2=" "><subfield code="a">08</subfield><subfield code="t">Verein Deutscher Ingenieure: Fortschritt-Berichte VDI</subfield><subfield code="v">232</subfield><subfield code="w">(DE-604)BV000882482</subfield><subfield code="9">232</subfield></datafield><datafield tag="999" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-005930535</subfield></datafield><datafield tag="883" ind1="1" ind2=" "><subfield code="8">1\p</subfield><subfield code="a">cgwrk</subfield><subfield code="d">20201028</subfield><subfield code="q">DE-101</subfield><subfield code="u">https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk</subfield></datafield></record></collection> |
| id | DE-604.BV008979885 |
| illustrated | Illustrated |
| indexdate | 2024-07-09T17:27:52Z |
| institution | BVB |
| isbn | 3181432083 |
| language | German |
| oai_aleph_id | oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-005930535 |
| oclc_num | 75224259 |
| open_access_boolean | |
| owner | DE-29T |
| owner_facet | DE-29T |
| physical | 145 S. Ill., graph. Darst. |
| publishDate | 1991 |
| publishDateSearch | 1991 |
| publishDateSort | 1991 |
| publisher | VDI Verl. |
| record_format | marc |
| series2 | Verein Deutscher Ingenieure: Fortschritt-Berichte VDI / 08 |
| spelling | Thaele, Rolf Verfasser aut Entwicklung und systemanalytische Untersuchung eines Laser-Scan-Mikroskops mit integriert-optischer Einseitenbanddetektion Rolf Thaele Düsseldorf VDI Verl. 1991 145 S. Ill., graph. Darst. txt rdacontent n rdamedia nc rdacarrier Verein Deutscher Ingenieure: Fortschritt-Berichte VDI / 08 232 Einseitenbandverfahren (DE-588)4151400-2 gnd rswk-swf Integrierte Optik (DE-588)4027240-0 gnd rswk-swf Laser-Rastermikroskop (DE-588)4195932-2 gnd rswk-swf Laser-Rastermikroskop (DE-588)4195932-2 s Einseitenbandverfahren (DE-588)4151400-2 s Integrierte Optik (DE-588)4027240-0 s 1\p DE-604 08 Verein Deutscher Ingenieure: Fortschritt-Berichte VDI 232 (DE-604)BV000882482 232 1\p cgwrk 20201028 DE-101 https://d-nb.info/provenance/plan#cgwrk |
| spellingShingle | Thaele, Rolf Entwicklung und systemanalytische Untersuchung eines Laser-Scan-Mikroskops mit integriert-optischer Einseitenbanddetektion Einseitenbandverfahren (DE-588)4151400-2 gnd Integrierte Optik (DE-588)4027240-0 gnd Laser-Rastermikroskop (DE-588)4195932-2 gnd |
| subject_GND | (DE-588)4151400-2 (DE-588)4027240-0 (DE-588)4195932-2 |
| title | Entwicklung und systemanalytische Untersuchung eines Laser-Scan-Mikroskops mit integriert-optischer Einseitenbanddetektion |
| title_auth | Entwicklung und systemanalytische Untersuchung eines Laser-Scan-Mikroskops mit integriert-optischer Einseitenbanddetektion |
| title_exact_search | Entwicklung und systemanalytische Untersuchung eines Laser-Scan-Mikroskops mit integriert-optischer Einseitenbanddetektion |
| title_full | Entwicklung und systemanalytische Untersuchung eines Laser-Scan-Mikroskops mit integriert-optischer Einseitenbanddetektion Rolf Thaele |
| title_fullStr | Entwicklung und systemanalytische Untersuchung eines Laser-Scan-Mikroskops mit integriert-optischer Einseitenbanddetektion Rolf Thaele |
| title_full_unstemmed | Entwicklung und systemanalytische Untersuchung eines Laser-Scan-Mikroskops mit integriert-optischer Einseitenbanddetektion Rolf Thaele |
| title_short | Entwicklung und systemanalytische Untersuchung eines Laser-Scan-Mikroskops mit integriert-optischer Einseitenbanddetektion |
| title_sort | entwicklung und systemanalytische untersuchung eines laser scan mikroskops mit integriert optischer einseitenbanddetektion |
| topic | Einseitenbandverfahren (DE-588)4151400-2 gnd Integrierte Optik (DE-588)4027240-0 gnd Laser-Rastermikroskop (DE-588)4195932-2 gnd |
| topic_facet | Einseitenbandverfahren Integrierte Optik Laser-Rastermikroskop |
| volume_link | (DE-604)BV000882482 |
| work_keys_str_mv | AT thaelerolf entwicklungundsystemanalytischeuntersuchungeineslaserscanmikroskopsmitintegriertoptischereinseitenbanddetektion |