Untersuchungen von Grenzflächen und Gitterbaufehlern in GaAs mit Hilfe der Rastertunnelmikroskopie:
Gespeichert in:
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| Format: | Buch |
| Sprache: | German |
| Veröffentlicht: |
1990
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| Schriftenreihe: | Forschungszentrum <Jülich>: Berichte
2382 |
| Schlagworte: | |
| Beschreibung: | Aachen, Techn. Hochsch., Diss., 1990. - Auch als: Berichte des Forschungszentrums Jülich, Jül 2382 |
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