Silizium-Epitaxieschichten mittels Lösungstransport durch Fliehkraft und deren strukturelle und elektrische Charakterisierung überwiegend mit elektronenmikroskopischen Methoden:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: Bauser, Elisabeth (VerfasserIn), Strunk, Horst (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: Eggenstein-Leopoldshafen Fachinformationszentrum Energie, Physik, Mathematik 1986
Schlagworte:
Beschreibung:Zsfassung in engl. Sprache. - PST: Silicon epitaxial layers with solution transport by centrifugal forces and their structural and electrical characterization by methods of electron microscopy
Beschreibung:103 S. Ill., graph. Darst.

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