Weber, M. (1980). Verfahren zur Bestimmung der Dotierungsdichteverteilung in Siliziumscheiben mit dem Raster-Elektronenmikroskop.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Weber, Martin. Verfahren Zur Bestimmung Der Dotierungsdichteverteilung in Siliziumscheiben Mit Dem Raster-Elektronenmikroskop. 1980.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Weber, Martin. Verfahren Zur Bestimmung Der Dotierungsdichteverteilung in Siliziumscheiben Mit Dem Raster-Elektronenmikroskop. 1980.
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