Bernt, H., Müller, J., & Spöhrle, H. (1979). Messung der Minoritätsträgerlebensdauer in dünnen Silicium-Epitaxieschichten. Kernforschungszentrum.
Chicago Style (17th ed.) CitationBernt, Helmut, Jürgen Müller, and Hans-Peter Spöhrle. Messung Der Minoritätsträgerlebensdauer in Dünnen Silicium-Epitaxieschichten. Eggenstein-Leopoldshafen: Kernforschungszentrum, 1979.
MLA (9th ed.) CitationBernt, Helmut, et al. Messung Der Minoritätsträgerlebensdauer in Dünnen Silicium-Epitaxieschichten. Kernforschungszentrum, 1979.
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