Bernt, H., Müller, J., & Spöhrle, H. (1979). Messung der Minoritätsträgerlebensdauer in dünnen Silicium-Epitaxieschichten. Kernforschungszentrum.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Bernt, Helmut, Jürgen Müller, und Hans-Peter Spöhrle. Messung Der Minoritätsträgerlebensdauer in Dünnen Silicium-Epitaxieschichten. Eggenstein-Leopoldshafen: Kernforschungszentrum, 1979.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Bernt, Helmut, et al. Messung Der Minoritätsträgerlebensdauer in Dünnen Silicium-Epitaxieschichten. Kernforschungszentrum, 1979.
Achtung: Diese Zitate sind unter Umständen nicht zu 100% korrekt.