(1989). Characterization of semiconductor materials: Principles and methods. Noyes.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Characterization of Semiconductor Materials: Principles and Methods. Park Ridge, NJ: Noyes, 1989.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Characterization of Semiconductor Materials: Principles and Methods. Noyes, 1989.
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