Zaus, R. (1992). Charakterisierung von III/V-Halbleiter-Heterostrukturen mit hochauflösender Röntgendiffraktometrie.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Zaus, Robert. Charakterisierung Von III/V-Halbleiter-Heterostrukturen Mit Hochauflösender Röntgendiffraktometrie. 1992.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Zaus, Robert. Charakterisierung Von III/V-Halbleiter-Heterostrukturen Mit Hochauflösender Röntgendiffraktometrie. 1992.
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