Karmann, A. (1992). Einzelne Störstellen in der Si-SiO 2 -Grenzschicht von MOS-Feldeffekttransistoren.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Karmann, Agnes. Einzelne Störstellen in Der Si-SiO 2 -Grenzschicht Von MOS-Feldeffekttransistoren. 1992.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Karmann, Agnes. Einzelne Störstellen in Der Si-SiO 2 -Grenzschicht Von MOS-Feldeffekttransistoren. 1992.
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