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Reimann, K. (1974). Optoelektrische Untersuchungen an MOS-Schichten bei tiefen Temperaturen (Kurzfassung.).

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Reimann, Klaus. Optoelektrische Untersuchungen an MOS-Schichten Bei Tiefen Temperaturen. Kurzfassung. 1974.

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Reimann, Klaus. Optoelektrische Untersuchungen an MOS-Schichten Bei Tiefen Temperaturen. Kurzfassung. 1974.

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