Reimann, K. (1974). Optoelektrische Untersuchungen an MOS-Schichten bei tiefen Temperaturen (Kurzfassung.).
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Reimann, Klaus. Optoelektrische Untersuchungen an MOS-Schichten Bei Tiefen Temperaturen. Kurzfassung. 1974.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Reimann, Klaus. Optoelektrische Untersuchungen an MOS-Schichten Bei Tiefen Temperaturen. Kurzfassung. 1974.
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