Strahlenschädigung von Silizium-Halbleiterdetektoren durch Protonen im Energiebereich von 9 bis 21 MeV:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Grube, Reinhard (VerfasserIn)
Format: Mikrofilm Buch
Sprache:Undetermined
Veröffentlicht: 1978
Schlagworte:
Beschreibung:Hamburg, Diss.
Beschreibung:138 S.auf 2 Microfiches: graph.Darst.

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