Scheer, S. (1992). Internationales Patent-, Muster- und Warenzeichen-Recht (52. Aufl., Ausg. 1993.). Scheer.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Scheer, Stefan. Internationales Patent-, Muster- Und Warenzeichen-Recht. 52. Aufl., Ausg. 1993. Hürth u.a: Scheer, 1992.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Scheer, Stefan. Internationales Patent-, Muster- Und Warenzeichen-Recht. 52. Aufl., Ausg. 1993. Scheer, 1992.
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