Stabilitätsuntersuchungen und elektrische Leitfähigkeitsmessungen an den Meta-Germanaten MgGeO3 und CoGeO3, sowie dem Ortho-Silikat Ni2SiO4 unter hohen Drucken und Temperaturen:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Kirfel, Armin (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: Bonn 1972
Schlagworte:
Beschreibung:Bonn, Diss.
Beschreibung:154 S.m.Abb.

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