New directions and future aspects of HVEM: proceedings of the Second Osaka International Symposium in High-Voltage Electron Microscopy, Osaka University, Suita, Osaka, Japan, 8 - 10 November 1990
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Format: Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Amsterdam u.a. North-Holland 1991
Schriftenreihe:Ultramicroscopy 39,1/4
Schlagworte:
Beschreibung:Einzelaufnahme eines Zs.-Heftes
Beschreibung:XVII, 408 S. Ill., graph. Darst.

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