Ellipsometrische Untersuchungen an Halbleitern und Halbleiteroberflächen mit Folgerungen zum Mechanismus des elektronischen Transports heisser Ladungsträger:
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Zollner, Stefan (VerfasserIn)
Format: Abschlussarbeit Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: 1991
Schlagworte:
Beschreibung:373 S. graph. Darst.

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