Holdings: Meßverfahren der experimentellen Mechanik

Meßverfahren der experimentellen Mechanik: mit 23 Tab.

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Main Authors:	Heymann, Joachim 1930-2014 (Author), Lingener, Adolf 1933- (Author)
Format:	Book
Language:	German
Published:	Berlin [u.a.] Springer 1986
Subjects:	Technische Mechanik Experiment Messung Messtechnik Mechanik
Online Access:	Inhaltsverzeichnis
Item Description:	Hier auch später erschienene, unveränderte Nachdrucke
Physical Description:	468 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:	0387157476 3540157476 9783642825774

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adam_text	JOACHIM HEYMANN * ADOLF LINGENER MESSVERFAHREN DER EXPERIMENTELLEN MECHANIK MIT 375 ABBILDUNGEN UND 23 TABELLEN * V * ' SPRINGER-VERLAG BERLIN HEIDELBERG NEW YORK LONDON PARIS TOKYO 1986 INHALTSVERZEICHNIS 0. EINFUEHRUNG - 15 1. GEMEINSAMKEITEN BEIM ANWENDEN VON FELDMESSVERFAHREN 19 1.1. KONTINUUMSMECHANISCHE GRUNDLAGEN 19 1.1.1. SPANNUNGSTENSOR UND SPANNUNGSZUSTAENDE 19 1.1.2. VERSCHIEBUNGS-VERZERRUNGS-BEZIEHUNGEN * THERMISCHE DEHNUNG 25 1.1.3. VERZERRUNGSTENSOR UND VERZERRUNGSZUSTAENDE 28 1.1.4. ELASTISCHE SPANNUNGS-VERZERRUNGS-BEZIEHUNGEN 30 1.1.5. ST.-VENANTSCHES PRINZIP 34 1.2. ZUR UEBERTRAGUNG VON VERSUCHSERGEBNISSEN AN MODELLEN AUF DIE HAUPT- AUSFUEHRUNG 35 1.2.1. STRENGE PHYSIKALISCHE AEHNLICHKEIT UND AEHNLICHKEITSMASSSTAEBE 36 1.2.2. , METHODEN ZUR GEWINNUNG VON MODELLGESETZEN UND AEHNLICHKEITSKENNZAHLEN 38 1.2.2.1. ERMITTLUNG AUS DEM VERHAELTNIS DER WIRKENDEN KRAEFTEARTEN . 38 1.2.2.2. DIMENSIONSANALYSE . . » 39 1.2.2.3. FUNKTIONSANALYSE 42 1.2.3. ANGENAEHERTE AEHNLICHKEIT 44 1.2.4. ERWEITERTE AEHNLICHKEIT ' . . . 45 1.2.5. MASSSTABSFEHLER 48 1.2.6. BEISPIEL.- -. ; 49 1.3. WEITERFUEHRENDE LITERATUR 5 0 2. ' SPANNUNGSOPTIK . 51 2.1. ' EINFUEHRUNG . . . 51 2.2. GRUNDLAGEN DER EBENEN SPANNUNGSOPTIK 53 2.2.1. DOPPELBRECHUNG UND POLARISATION 53 2.2.2. LINEAR, ZIRKULAER UND ELLIPTISCH POLARISIERTES LICHT 58 2.3. SPANNUNGSOPTISEHE APPARATUR 61 2.3.1. AUFBAU 61 2.3.2. PRINZIP UND STRAHLENGANG 62 2.4. EBENES SPANNUNGSOPTISCHES GRUNDGESETZ 63 2.4.1. DOPPELBRECHENDE KRISTALLPLATTE ZWISCHEN GEKREUZTEN POLARISATOREN . . . . 63 2.4.1.1. LINEAR POLARISIERTES MONOCHROMATISCHES LICHT 63 2.4.1.2. ZIRKULAR POLARISIERTES MONOCHROMATISCHES LICHT . ; 66 2.4.2. N BELASTETES MODELL ZWISCHEN GEKREUZTEN POLARISATOREN . , 68 2.4.2.1. ANALOGIE KRISTALLPLATTE * BELASTETES MODELL 68 2.4.2.2. HOMOGENER SPANNUNGSZUSTAND : 69 2.4.2.3. HAUPTGLEICHUNG DER SPANNUNGSOPTIK 70 2.4.2.4. ANWENDUNG DER INTENSITAETSGLEICHUNG UND DER HAUPTGLEICHUNG AUF FELD- PROBLEME '. -72 2.4.2.5. WEISSES LICHT . . . 74 2.4.3. BESTIMMUNG DER SPANNUNGSOPTISCHEN KONSTANTEN 75 2.5. ISOCHROMATEN 76 2.5.1. BESONDERHEITEN UND AUFNAHME DER ISOCHROMATEN 76 2.5.1.1. ISOCHROMATEN ALS LINIEN GLEICHER HAUPTSCHUBSPANNUNG 76 INHALTSVERZEICHNIS 2.5.1.2. ISOCHROMATEN AM LASTFREIEN BAND 76 2.5.1.3. ISOCHROMATEN IN SINGULAEREN UND ISOTROPEN PUNKTEN 77 2.5.1.4. AUFNAHME DES ISOCHROMATENBILDES 78 2.5.2. TYPISCHE ISOCHROMATENBILDER 78 2.5.2.1. REINER ZUG BZW. REINER DRUCK IN STAEBEN 79 2.5.2.2. BIEGUNG MIT QUERKRAFT IN STAEBEN 79 2.5.2.3. EINZELLAST SENKRECHT AUF DER HALBEBENE . . . .- 79 2.5.2.4. WALZENDRUCK 80 2.5.2.5. MOMENTENNULLPUNKTE 81 , 2.5.3. BESTIMMUNG NICHTGANZZAHLIGER ISOCHRORNATENORDNUNGEN 81 2.5.3.1. BESTIMMUNG DURCH GRAFISCHE EXTRAPOLATION . . ." 81 2.5.3.2. % BESTIMMUNG DURCH HELLFELDAUFNAHMEN 82 2.5.3.3. BESTIMMUNG DURCH KOMPENSATION NACH SENARMONT 83 2.5.4. NAGELPROBE - . . . 84 2.6. ISOKLINEN UND SPANNUNGSTRAJEKTORIEN 85 2.6.1. HERSTELLUNG DES ISOKLINENBILDES 85 2.6.2. BESONDERHEITEN DER ISOKLINEN . 86 2.6.2.1. ERMITTLUNG DER SCHUBSPANNUNGEN : 86 2.6.2.2. ISOKLINEN AM LASTFREIEN RAND UND IN SYMMETRIEACHSEN 86 2.6.2.3. ISOKLINEN IN SINGULAEREN UND ISOTROPEN PUNKTEN 87 2.6.3. KONSTRUKTION DER HAUPTSPANNUNGSTRAJEKTORIEN 87 2.7. ZUR VOLLSTAENDIGEN AUSWERTUNG DES EBENEN SPANNUNGSFELDES 88 2.8. MODELLWERKSTOFFE 93 2.8.1. GUETEANFORDERUNGEN * 93 2.8.2. AUSWAHL UND GIESSTECHNIK . 94 2.9. RAEUMLICHE SPANNUNGSOPTIK 95 2.9.1. OPTISCHE GRUNDLAGEN 96 2.9.2. SEKUNDAERE HAUPTSPANNUNGEN : 97 2.10. VERFAHREN DER RAEUMLICHEN SPANNUNGSOPTIK " . . 99 2.10.1. ERSTARRUNGSVERFAHREN 99 2.10.1.1. PRINZIP UND VERSUCHSDURCHFUEHRUNG . 99 2.10.1.2. AUSWERTUNG VON SYMMETRIESCHNITTEN 100 2.10.1.3. SCHIEFE DURCHSTRAHLUNG IN DER OBERFLAECHE 101 2.10.2. OBERFLAECHENSCHICHTVERFAHREN 104 2.10.2.1. PRINZIP UND VERSUCHSDURCHFUEHRUNG , . . . 104 2.10.2.2. THEORETISCHE GRUNDLAGEN 105 2.10.3. ZWISCHENSCHICHTVERFAHREN ' 106 2.10.4. VERFAHREN MIT EINGEBETTETEN REFLEXIONSSCHICHTEN 107 2.11. DYNAMISCHE SPANNUNGSOPTIK 107 2.12. FOTOPLASTIZITAET 109 2.12.1. VERSUCHE MIT MODELLEN 109 2.12.2. ANWENDUNG DES OBERFLAECHENSCHICHTVERFAHRENS .' 110 2.13. WEITERFUEHRENDE LITERATUR .110 3. MOIREVERFAHREN V 112 3.1. WESEN DES MOIREEFFEKTS .113 3.2. MESSPRINZIPIEN DES MOIREVERFAHRENS 115 3.3. ' ISOTHETENVERFAHREN 117 3.3.1. MATHEMATISCHE ANALYSE DES MOIREEFFEKTS 117 3.3.1.1. HOMOGENER DEFORMATIONSZUSTAND 117 3.3.1.2. EINDIMENSIONALER FALL 118 3.3.1.3. MISMATCH-EFFEKT IM EINDIMENSIONALEN FALL 122 3.3.1.4. ZWEIDIMENSIONALER FALL 124 INHALTSVERZEICHNIS 3.3.1.5. GRUNDGLEICHUNGEN DES ISOTHETENVERFAHRENS 127 3.3.1.6. MISMATCH-EFFEKTE IM ZWEIDIMENSIONALEN FALL 128 3.3.1.7. VERDREHMOIRE 130 3.3.2. ANALYSE DES MOIREEFFEKTS BEI INHOMOGENER DEFORMATION 131 3.3.3. AUSWERTUNG VON ISOTHETENFELDERN 131 3.3.3.1. NUMERIEREN VON ISOTHETENFELDERN 131 3.3.3.2. ERMITTLUNG DER DEFORMATIONEN 135 3.3.3.3. GRAFISCHE UND NUMERISCHE DIFFERENTIATION VON ISOTHETENFELDERN 136 3.3.3.4. AUSWERTUNG AM RAND 140 3.3.4. VERSUCHSTECHNIK DES ISOTHETENVERFAHRENS 141 3.3.4.1. ORIGINALRASTER 141 3.3.4.2. RASTERKOPIERTECHNIKEN 142 3.3.4.3. OBJEKTRASTER 144 3.3.4.4. BEZUGSRASTER. . 146 3.3.4.5. KONTRAST UND FOTOGRAFISCHE AUFNAHME VON MOIREBILDERN 146 3.3.5. ANWENDUNGEN DES ISOTHETENVERFAHRENS 149 3.3.5.1. ELASTISCHE PROBLEME . . . " 149 3.3.5.2. KOMBINATION DES ISOTHETENVERFAHRENS MIT DEM SPANNUNGSOPTISCHEN ER- STARRUNGSVERFAHREN 149 3.3.5.3. ELASTISCH-PLASTISCHE DEFORMATIONSFELDER 151 3.3.5.4. PLASTISCHES FLIESSEN . 152 3.3.5.5. VISKOELEASTISCHES MATERIALVERHALTEN 154 3.3.5.6. MOEIREDEHNUNGSGEBER 154 3.4. MOIRESTREIFENMULTIPLIKATION 155 3.4.1. BEUGUNG AN EINEM EINZELNEN GITTER 155 3.4.2. BEUGUNG AN EINEM BEZUGS-UND OBJEKTGITTER ' 156 3.4.3. VERSUCHSTECHNIK 158 3.4.4. ANWENDUNGEN DER MOIRESTREIFENMULTIPLIKATION 159 3.4.4.1. ELASTISCHE PROBLEME 159 3.4.4.2. KOMBINATION MIT DEM SPANNUNGSOPTISCHEN ERSTARRUNGSVERFAHREN 160 3.4.4.3. ELASTISCH-PLASTISCHE DEFORMATIONSFELDER 160 3.5. SCHATTENMOIREVERFAHREN 161 3.5.1. SCHATTENMOIREVERFAHREN MIT DIVERGENTEM STRAHLENGANG 161 3.5.2. SCHATTENMOIREVERFAHREN MIT PARALLELEM STRAHLENGANG 162 3.5.3. VERSUCHSTECHNIK UND VERSUCHSAUSWERTUNG - 163 3.5.4. ANWENDUNGEN DES SCHATTENMOIREVERFAHRENS 165 3.5.4.1. QUERDEHNUNG IN SCHEIBEN 165 3.5.4.2. DURCHBIEGUNG VON PLATTEN 165 3.5.4.3. BEULVERHALTEN VON FLAECHENTRAGWERKEN 167 3.5.4.4. ANWENDUNGEN AUSSERHALB DER FESTKOERPERMECHANIK 167 3.6. REFLEXIONSMOIREVERFAHREN 167 3.6.1. STRAHLENGANG DES REFLEXIONSMOIREVERFAHRENS 167 3.6.2. VERSUCHSTECHNIK . 170 3.6.3. ANWENDUNGEN DES REFLEXIONSMOIREVERFAHRENS 171 3.7. WEITERFUEHRENDE LITERATUR 172 4. HOLOGRAFISCHE INTERFEROMETRIE V . 173 4.1. EINFUEHRUNG .". 173 4.2. PHYSIKALISCHE GRUNDLAGEN 173 4.2.1. GRUNDBEGRIFFE . ' . . . . , . . . . 174 4.2.2. GRUNDLAGEN DER INTERFEROMETRIE . 174 4.2.2.1. INTERFERENZ UND KOHAERENZ VON WELLEN 174 4.2.2.2. KEIL UND EBENE PLATTE; ZWEI- UND MEHRSTRAHLINTERFERENZEN 176 4.2.2.3. INTERFEROMETER 177 10 INHALTSVERZEICHNIS 4.2.3. GRUNDLAGEN DER HOLOGRAFISCHEN INTERFEROMETRIE 178 4.2.3.1. HOLOGRAFISCHE AUFZEICHNUNG '. 178 4.2.3.2. BEGRUENDUNG DER HOLOGRAFISCHEN SPEICHERUNG UND REKONSTRUKTION 180 4.2.3.3. . EINIGE WICHTIGE EIGENSCHAFTEN DES HOLOGRAFISCHEN BILDES 182 4.2.3.4. HOLOGRAFISCHE INTERFEROMETRIE 184 4.3. METHODEN DER HOLOGRAFISCHEN INTERFEROMETRIE. . . * 185 4.3.1. DOPPELBELICHTUNGSMETHODE (DOUBLE EXPOSURE) 185 4.3.2. ECHTZEITMETHODE (REAL TIME) 186 4.3.3: ZEITMITTELUNGSMETHODE (TIME AVERAGE) 187 4.4. AUSWERTUNG HOLOGRAFISCHER INTERFEROGRAMME 188 '4.4.1. GRUNDGLEICHUNG DER HOLOGRAFISCHEN INTERFEROMETRIE . . . . . . . . . . . 188 4.4.2. STATISCHES AUSWERTEVERFAHREN 189 4.4.3. DYNAMISCHES AUSWERTEVERFAHREN ' 191 4.4.4. ZUR ANWENDUNG DER BEIDEN AUSWERTEVERFAHREN . 192 4.5. HOLOGRAFISCHE VERSUCHSAPPARATUR 193 4.5.1. LASER 193 4.5.2. OPTISCHE UND FEINMECHANISCHE BAUELEMENTE 195 4.5.3. VERSUCHSTISCH 195 4.5.4. AUFZEICHNUNGSMATERIALIEN FUER HOLOGRAMME 196 4.6. ANWENDUNG DER HOLOGRAFISCHEN INTERFEROMETRIE 198 4.6.1. BESTIMMUNG DER DURCHBIEGUNG UND SCHWINGUNGSFORMEN VON PLATTEN UND SCHEIBEN \ . . . 198 4.6.2. SCHWINGUNGEN VON ZYLINDERN 200 4.6.3. ANWENDUNGEN ZUR UNTERSUCHUNG PLASTISCHER VERFORMUNGEN UND BRUCH- MECHANISCHER PROBLEME . . . 200 4.7. SPECKLE-VERFAHREN 202 4.7.1. SPECKLE-FOTOGRAFIE 203 4.7.2. SPECKLE-INTERFEROMETRIE , 204 4.8. AUSBLICK . .204 4.9. WEITERFUEHRENDE LITERATUR 205 5. DEHNGITTERVERFAHREN 206 5.1. PRINZIP : . .' . . 206 5.2. GRUNDLAGEN UND AUSWERTUNG 208 5.3. MODELLWERKSTOFFE UND MODELLHERSTELLUNG . . . 211 5.4. MESSMETHODEN MIT ANWENDUNGEN 212 5.4.1. GUMMIMODELLMETHODE 212 5.4.2. METHODE ZUR BERUECKSICHTIGUNG DES EIGENGEWICHTS 213 5.4.3. KOMBINATION VON DEHNGITTERVERFAHREN UND SPANNUNGSOPTIK 214 5.4.4. ANWENDUNG DES DEHNGITTERVERFAHRENS ZUM ERFASSEN VON TRENN- UND UM- FORMVORGAENGEN 217 5.5. WEITERFUEHRENDE LITERATUR 218 6. ' REISSLACKVERFAHREN 219 6.1. PRINZIP 219 6.2. ' GRUNDLAGEN 219 6.3. REISSLACKARTEN . , 221 6.4. , ERZEUGUNG DER RISSBILDER 223 6.5. URSPRUNG UND VERAENDERUNG DER RISSEMPFINDLICHKEIT 223 INHALTSVERZEICHNIS 11 6.6. ERKENNBARKEIT DER RISSE 224 6.7. AUSWERTUNG DER RISSBILDER ' 225 6.8. BEISPIELE . . . . . 228 6.9. WEITERFUEHRENDE LITERATUR 230 7. ELEKTRISCHES MESSEN MECHANISCHER GROESSEN 231 7.1. EINIGE GRUNDLAGEN ZUM MESSEN ZEITABHAENGIGER GROESSEN 231 7.1.1. ZEITABHAENGIGE MESSGROESSEN DER FESTKOERPERMECHANIK 231 7.1.2. GRUNDBEGRIFFE ZUR DARSTELLUNG UND CHARAKTERISIERUNG ZEITABHAENGIGER GROESSEN 232 7.1.3. GRUNDBEGRIFFE ZUM BESCHREIBEN VON MESSEINRIEHTUNGEN FUER MECHANISCHE GROESSEN 235 7.1.4. INFORMATIONEN UND SIGNALE 238 7.1.5. KLASSIFIZIERUNG VON MESSSIGNALEN 239 7.1.6. DAS LOGARITHMISCHE PEGELMASS 242 7.1.7. * MESSFEHLER BEI DYNAMISCHEN MESSUNGEN \ 243 7.2. AUFBAU UND EIGENSCHAFTEN VON MESSEINRIEHTUNGEN FUER MECHANISCHE GROESSEN 245 7.3. AUFNEHMENDE ELEMENTE 247 7.3.1. AUFNEHMENDE ELEMENTE FUER BEWEGUNGSGROESSEN 247 7.3.2. AUFNEHMENDE ELEMENTE FUER KRAFTGROESSEN 250 7.4. WAENDLER ." 251 7.4.1. AKTIVE WANDLER ., . 252 7.4.1.1. ELEKTRODYNAMISCHE WANDLER / 252 7.4.1.2. ELEKTROMAGNETISCHE WANDLER 253 7.4.1.3. PIEZOELEKTRISCHE WANDLER 254 7.4.2. PASSIVE WANDLER. BRUECKENSCHALTUNGEN 255 7.4.2.1. OHMSCHE WANDLER 257 7.4.2.2. INDUKTIVE WANDLER 258 7.4.2.3. KAPAZITIVE WANDLER '. . 259 7.4.2.4. PASSIVE WANDLER ALS ELEMENTE ELEKTRISCHER SCHWINGKREISE 260 7.4.2.5. DIGITALE WANDLER 260 7.5. VERSTAERKER .261 7.6. ANZEIGE, REGISTRIERUNG UND SPEICHERANG VON MESSSIGNALEN 262 7.6.1. ANALOGE VERFAHREN . * 263 7.6.1.1. ANALOGE ANZEIGEGERAETE , . . . . 263 7.6.1.2. ANALOGE REGISTRIERGERAETE 264 7.6.1.3. MAGNETBANDSPEICHERUNG VON ANALOGSIGNALEN 267 7.6.2. DIGITALE VERFAHREN 268 7.6.2.1. ANALOG-DIGITAL-UMSETZER . . . . 268 7.6.2.2. DIGITALE ANZEIGEGERAETE 2.70 7.6.2.3. DIGITALE REGISTRIERGERAETE . 271 7.6.2.4. DIGITALSPEICHER 271 7.7. KALIBRIERUNG VON MESSEINRIEHTUNGEN.* 273 7.7.1. ZWECK DER KALIBRIERUNG . . " 273 7.7.2. '- VERFAHREN ZUR KALIBRIERUNG . . '. 273 7.8. SPEZIELLE MESSEINRIEHTUNGEN FUER MECHANISCHE GROESSEN 274 7.8.1. MESSSYSTEME AUF DER BASIS PIEZOELEKTRISCHER AUFNEHMER . . * 275 7.8.1.1. BAUARTEN PIEZOELEKTRISCHER AUFNEHMER 275 7.8.1.2. BLOCKSCHALTBILD EINER MESSEINRICHTUNG 276 7.8.2. MESSSYSTEME AUF DER BASIS ELEKTRODYNAMISCHER AUFNEHMER . . . . . . . . 277 7.8.3. PHASENMESSUNGEN 277 7.8.4. FREQUENZMESSUNGEN 279 7.9. WEITERFUEHRENDE LITERATUR 280 12 INHALTSVERZEICHNIS 8. MESSEN MIT DEHNUNGSMESSSTREIFEN . 281 8.1. EINFUEHRUNG 281 8.2. MESSPRINZIP 282 8.3. HAUPTTYPEN DER DEHNUNGSMESSSTREIFEN (DMS) 283 8.3.1. DRAHT- UND FOLIEN-DMS 284 -8.3.2. HALBLEITER-DMS 285 8.4. WHEATSTONESCHE BRUECKENSCHALTUNG 286 8.4.1. SPEISUNG DER BRUECKENSCHALTUNG 289 8.4.2. KALIBRIERUNG DER MESSSCHALTUNG 290 8.5. MESSGERAETE FUER DAS DMS-VERFAHREN . 291 8.5.1. TRAEGERFREQUENZMESSVERSTAERKER 291 8.5.2. MESSGERAETE FUER HALBLEITER-DMS 293 8.6. GESICHTSPUNKTE BEI DER VORBEREITUNG EINER DEHNUNGSMESSUNG MIT DMS . . 294 8.6.1. AUSWAHL DER MESSSTELLEN ' 294 8.6.2. AUSWAHL DER DMS 294 8.6.2.1. SPANNUNGSZUSTAND DES MESSOBJEKTES. . . . '.' 294 8.6.2.2. STATISCHE UND DYNAMISCHE BEANSPRUCHUNG . 297 8.6.3. WEITERE GESICHTSPUNKTE 299 8.6.4. AUFKLEBEN DER DMS 303 8.6.5. SCHUTZ DER DMS GEGEN AEUSSERE EINWIRKUNGEN 304 8.7. AUSWERTUNG DES SPANNUNGSZUSTANDES FUER EINEN MESSPUNKT 304 8.8. ZUSAMMENHANG ZWISCHEN BELASTUNGS- UND DEHNUNGSGROESSEN BEI PRISMA- TISCHEN BAUTEILEN 307 8.8.1. ZUG-DRUCK-BEANSPRUCHUNG 307 8.8.2. BIEGEBEANSPRUCHUNG 308 8.8.3. TORSIONSBEANSPRUCHUNG 308 8.9. WEITERFUEHRENDE LITERATUR 309 9. ' AUSWERTUNG DYNAMISCHER MESSUNGEN 310 9.1. ZIELSTELLUNG BEI DER AUSWERTUNG DYNAMISCHER MESSUNGEN 310 9.2. DIE J'OANERTRANSFORMATION UND WEITERE FUNKTIONALOPERATIONEN 311 9.2.1. BEDEUTUNG DER .FCMWERANALYSE. ZEIT- UND FREQUENZBEREICH . . . ' 311 9.2.2. KOMPLEXE .FCMWERREIHE 312 9.2.2.1. . AMPLITUDENSPEKTRUM 313 9.2.2.2. LEISTUNGSSPEKTRUM 317 9.2.3. .FOWIERTRANSFORMATION 318 9.2.3.1. AMPLITUDENDICHTESPEKTRUM " 318 9.2.3.2. LEISTUNGSDICHTESPEKTRUM 320 9.2.4. IAPZACETRANSFORMATION 321 9.2.5. FALTUNG ZWEIER FUNKTIONEN 322 9.3. WEITERE KENNFUNKTIONEN VON SIGNALEN UND SYSTEMEN 322 9.3.1. VERTEILUNGSFUNKTION F(X). VERTEILUNGSDICHTEFUNKTION P(X) 323 9.3.2. AUTOKORRELATIONSFUNKTION (AKF) 325 9.3.3. CEPSTRUM 326 9.3.4. KREUZKORRELATIONSFUNKTION (KKF) 327 9.3.5. KREUZLEISTUNGSDICHTESPEKTRUM 327 9.3.6. GEWICHTSFUNKTION 328 9.3.7. UEBERGANGSFUNKTION 328 9.3.8. KOMPLEXER FREQUENZGANG 328 9.3.9. UEBERTRAGUNGSFUNKTION H(P) 331 9.3.10. ZUR ROLLE DER PHASENINFORMATION . 331 9.3.11. INFORMATIONSASPEKT BEI DER BILDUNG VON KENNFUNKTIONEN 332 . . . .* 281 . 281 282 283 284 285 286 289 ' 290 291 .291 293 MNGSMESSUNG MIT DMS . . 294 294 294 294 . 297 299 303 . . . . 304 MESSPUNKT 304 IHNUNGSGROESSEN BEI PRISMA- 307 307- 308 308 309 310 JSSUNGEN 310 NALOPERATIONEN 311 SNZBEREICH . . . 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TRANSIENTE VORGAENGE 9.4.8.3. NICHTSTATIONAERE STOCHASTISCHE SIGNALE . . . . 9.5. KLASSIERUNG (AUSWERTUNG IM ZEITBEREICH) . . 9.5.1. BEGRIFFSBESTIMMUNG UND EINSATZBEREICH . . . 9.5.2. EINTEILUNG DER KLASSIERVERFAHREN 9.5.3. EINPARAMETRISCHE KLASSIERVERFAHREN . . . . 9.5.4. ZWEIPARAMETRISCHE KLASSIERVERFAHREN . . . . 9.5.4.1. KLASSIERUNG NACH VERFORMUNGSZYKLEN (RAIN-S 9.5.5. WEITERE VERFAHREN 9.5.6. DARSTELLUNG UND AUSWERTUNG VON KLASSIERERGT 9.5.7. PRAKTISCHE ANWENDUNG DER KLASSIERVERFAHREN 9.6. BEURTEILUNG VON MESSERGEBNISSEN 9.6.1. BEURTEILUNG VON STATIONAEREN MASCHINENSCHWIR 9.6.2. SCHWINGUNGEN VON MASCHINENFUNDAMENTEN . 9.6.3. BAUWERKSSCHWINGUNGEN 9.6.4. " SCHWINGUNGSBEEINFLUSSUNG DES MENSCHEN . . 9.7. WEITERFUEHRENDE LITERATUR 10. MESSUNG UND ANALYSE MECHANISCHER FREQUEI 10.1. GRUNDLAGEN 10.1.1. EINFUEHRUNG : 10.1.2. ANALYTISCHE BESCHREIBUNG MECHANISCHER FREQI 10.1.3. ANSCHAULICHE INTERPRETATION VON FREQUENZGAER 10.1.4. GRAFISCHE DARSTELLUNGEN 10.1.5. WEITERE MOEGLICHKEITEN DER DEFINITION MECHAN 10.2. EXPERIMENTELLE BESTIMMUNG VON FREQUENZGAE] 10.2.1. GRUNDAUFBAU DER MESSEINRICHTUNG 10.2.2. SCHWINGUNGSERREGER ' 10.2.3. KALIBRIERUNG DER MESSKETTE 10.2.4. EINSATZ VON KLEIN- UND MIKRORECHNERN . . . 10.2.5. DIE KOHAERENZFUNKTION 14 INHALTSVERZEICHNIS 10.3. PARAMETERBESTIMMUNG BEI SYSTEMEN MIT EINEM FREIHEITSGRAD 407 10.3.1. ALLGEMEINES 407 10.3.2. ABSCHAETZUNG DER PARAMETER AUS DEM BETRAG DES FREQUENZGANGES 407 10.3.3. ABSCHAETZUNG DER PARAMETER AUS DER ORTSKURVE. 408 10.4. EXPERIMENTELLE MODALANALYSE 411 10.4.1. ERLAEUTERUNG DER PROBLEMSTELLUNG 411 10.4.2. ANALYTISCHE BESCHREIBUNG DER FREQUENZGAHGMATRIX 412 10.4.3. MESSUNG DER FREQUENZGANGMATRIX 412 10.4.4. MODALANALYSE GEMESSENER FREQUENZGAENGE 414 10.4.5. RECHNERGESTUETZTE MODALANALYSE »418 10.5. WEITERFUEHRENDE LITERATUR .420 BILDANHANG 421 SACHWORTRERZEICHNIS 461
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