Mahnkopf, R. (1989). Erweiterte Charakterisierung der Schädigungen durch heiße Ladungsträger im Gateoxid von Kurzkanal-MOS-Feldeffekttransistoren.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Mahnkopf, Reinhard. Erweiterte Charakterisierung Der Schädigungen Durch Heiße Ladungsträger Im Gateoxid Von Kurzkanal-MOS-Feldeffekttransistoren. 1989.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Mahnkopf, Reinhard. Erweiterte Charakterisierung Der Schädigungen Durch Heiße Ladungsträger Im Gateoxid Von Kurzkanal-MOS-Feldeffekttransistoren. 1989.
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